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Wellenlängenempfindlicher Fotodiode C30724EH
AvalancheSiliziumInfrarot

Wellenlängenempfindlicher Fotodiode - C30724EH - Excelitas Technologies - PCO - Avalanche / Silizium / Infrarot
Wellenlängenempfindlicher Fotodiode - C30724EH - Excelitas Technologies - PCO - Avalanche / Silizium / Infrarot
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Eigenschaften

Merkmal
wellenlängenempfindlich, Avalanche, Silizium, Infrarot

Beschreibung

Produktübersicht
Die Silizium-Avalanche-Photodiode C30724EH (Si APD) bietet eine Spitzenempfindlichkeit bei 920 nm in einem hermetisch verschlossenen TO-18-Metallgehäuse. Sie verfügt über einen niedrigen Temperaturkoeffizienten und schnelle Ansprechzeiten, geeignet für 905-nm-Laser-Entfernungsmessung und industrielle Sensoranwendungen.

Serienbeschreibung
Die C30724-Serie liefert hohe Responsivität im Bereich 800–950 nm mit Anstiegs- und Abfallzeiten von ca. 5 ns und ohne Abfallzeit-Nachlauf. Für volumenstarke 905-nm-Laser-Entfernungsmessungen konzipiert, kann diese Serie mit fester Vorspannung betrieben werden, ohne aktive Temperaturkompensation.

Hauptmerkmale:
  • Si APD mit integriertem 905-nm-Filter im TO-18 Metallgehäuse
  • Ca. 5 ns Anstiegs- und Abfallzeiten, kein Nachlauf im Abfallverhalten
  • Betrieb bei niedriger Verstärkung
  • Niedriger Temperaturkoeffizient — keine Temperaturkompensation erforderlich

Hauptanwendungen:
  • Laser-Entfernungsmessung
  • Laser-Distanzmesser
  • Verkehrsgeschwindigkeitsmessung

Technische Daten:
  • Aktive Fläche: 0,2 mm²
  • Aktiver Durchmesser: 0,5 mm
  • Durchbruchspannung: 350 V
  • Kapazität: 1 pF
  • Dunkelstrom: 20 nA
  • Verstärkung: >12, 15, <18
  • Rauschstrom: 0,1 pA/√Hz
  • Gehäuse: TO-18
  • Wellenlänge der Spitzenempfindlichkeit: 920 nm
  • Responsivität: 8,5 A/W bei 920 nm
  • Anstiegs-/Abfallzeit: 5 ns
  • Gesamter Dunkelstrom (Bulk + Oberfläche): 20 nA
  • Betriebsspannungsbereich: 150-200 V
  • Wellenlängenbereich: 400-1100 nm

Kataloge

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electronica Munich 2026
electronica Munich 2026

10-13 Nov. 2026 Munich (Deutschland) Halle B4 - Stand 302

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