Aussteller werden
*mydirectindustry  
Deutsch
  1. Metrologie - Labor
  2. Inspektion und Überwachung
  3. Optisches Inspektionssystem
  4. CIMS

Optisches Inspektionssystem SVS 10μ
per VideosichtKameraautomatisiert

Optisches Inspektionssystem - SVS 10μ - CIMS - per Videosicht / Kamera / automatisiert
Optisches Inspektionssystem - SVS 10μ - CIMS - per Videosicht / Kamera / automatisiert
Zu meinen Favoriten hinzufügen
Zum Produktvergleich hinzufügen

Eigenschaften

Technologie
Kamera, optisch, per Videosicht
Merkmal
automatisiert
Typ
zur Fehlererkennung, visuell, Video, für spiegelnde Oberflächen
Anwendung
für die Elektronikindustrie
Weitere Eigenschaften
hochauflösend, computergesteuert, kontaktlos

Beschreibung

Beschreibung
AVI-Prüfstation für IC-Substratstreifen, die mit AVI-Systemen gescannt werden. Die SVS 10μ, CIMS AVI-Prüfstation betrieben von Sprint™, ist für die Verifikation von Linien/Finger-Geometrien bis 10 µm ausgelegt (optimiert für 10–18 µm).
Das System kombiniert einen reflektierenden/coaxialen Beleuchtungskanal mit drei diffusiven Kanälen, um Kontrast auf Goldoberflächen und Lötmasken zu maximieren. Das optische Design ermöglicht präzises Markieren von Defekten und das Ausschleusen defekter Einheiten. Robuste Mechanik und dedizierte Hardware sorgen für hohen Durchsatz und Betriebsstabilität.
Die SVS 10μ verfügt über eine ergonomische, benutzerfreundliche Bedienoberfläche mit geringem Schulungsaufwand. Sie integriert sich in CDB™ und CDBIC™ zur Defekt- und Ausschussdatenverwaltung und ist kompatibel mit allen CIMS AVI-Systemen sowie Laser Markierern von Drittanbietern.

Highlights
  • Flexible Videobeleuchtungs-Konfigurationen für optimalen Kontrast
  • Automatisierte Materialkalibrierung
  • Stationärer Vakuumtisch für stabile Handhabung
  • Ergonomisches Design für Bedienereffizienz
  • Optimierte Defekt-zu-Defekt-Bewegung zur Verkürzung der Zykluszeit
  • Klare Defektabbildung mit einstellbarer Videobeleuchtung

Optionen
  • Barcode-Leser
  • Verstellbare Monitorposition
  • CDB™/CDBIC™ – Defektklassifizierung und virtuelle Defektkartierung

Technische Daten
  • Minimale detektierbare Linien/Finger-Breite: 10 µm (optimiert für 10–18 µm)
  • Anwendung: Verifikation von IC-Substratstreifen, die mit AVI-Systemen gescannt wurden
  • Beleuchtung: Reflektierender/coaxialer Lichtkanal plus drei diffuse Kanäle
  • Optik: Ausgelegt für Markierung von Defekten und Ausschuss defekter Einheiten
  • Mechanik & Hardware: Robuste Konstruktion für hohen Durchsatz und Effizienz
  • Benutzeroberfläche & Ergonomie: Bedienerfreundlich, minimale Schulung erforderlich
  • Kompatibilität: Voll kompatibel mit CDB™ und CDBIC™
  • Interoperabilität: Kompatibel mit allen CIMS AVI-Systemen und Laser-Markierern von Drittanbietern

Weitere Produkte von CIMS

PCB Inspection and Metrology

* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.