BeschreibungAutomatisierte optische Inspektion (AOI) für flexible Leiterplatten (FPC) im Roll-to-Roll-Fertigungsprozess. Galaxy R2R 25 µm ist ein AOI-System für die Roll-to-Roll-Produktion von flex- und rigid-flex-PCBs und erkennt Leiterbreiten/Abstände bis 25 µm. Die Microlight™ Gen II-Beleuchtung liefert gleichmäßige Lichtabdeckung zur Erfüllung hoher Detektionsanforderungen. In Kombination mit hochauflösender Bilderfassung und der Spark™ 3.0-Detektions-Engine bietet das System präzise Fehlererkennung bei geringer Falschbefundrate. Kompatibel mit Front-AMHS-Integration oder Robotik für die Inline-Produktion.
Hauptmerkmale- Linearmotoren für ruckfreie und geräuscharme Bewegungen
- Kompakte mechanische Plattform
- Leistungsstarke Bildverarbeitungs-Firmware
- Verbesserter Beleuchtungsblock (Microlight™ Gen II)
- Schnelle und intuitive Einrichtung neuer Jobs
- Kompatibel mit Front-AMHS-Automation oder Roboter
Optionen- +2DM™ Messtechnik – Panel-Abmessungsmessung
- +2CD™ Messtechnik – 2D-Messung von Schaltungselementen
- LDI™ – Option für Laserbohrungsinspektion
- CDB™/CDBIC™ – Fehlerklassifizierung und virtuelle Fehlerkartierung
- VVS™ – Virtuelles Verifikationssystem
Technische Spezifikationen- Inspektionstyp: Automatisierte optische Inspektion (AOI) für FPC im Roll-to-Roll-Prozess
- Minimale Leiterbreite/Abstandserkennung: 25 µm
- Unterstützte Trägermaterialien: Flex- und Rigid-Flex-PCBs
- Optische Technologie: Microlight™ Gen II-Beleuchtung
- Detektions-Engine: Spark™ 3.0
- Bilderfassung: hochauflösende Bilderfassungshardware
- Software: fortschrittliche Detektionsalgorithmen mit niedriger Falschbefundrate
- Bewegungssystem: Linearmotoren für ruckfreie und geräuscharme Bewegungen
- Mechanik: kompakte Plattform
- Kompatibilität: kompatibel mit Front-AMHS-Automation oder Roboter
- Optionale Messtechnik: +2DM™ (Panel-Abmessungen), +2CD™ (2D-Schaltungselemente)
- Optionale Inspektionsmodule: LDI™, CDB™/CDBIC™, VVS™