Optisches Inspektionssystem AIVR 10μ
per VideosichtKameraKI

Optisches Inspektionssystem - AIVR 10μ - CIMS - per Videosicht / Kamera / KI
Optisches Inspektionssystem - AIVR 10μ - CIMS - per Videosicht / Kamera / KI
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Eigenschaften

Technologie
Kamera, optisch, KI, per Videosicht
Typ
zur Qualitätskontrolle, zur Fehlererkennung, visuell, Video, Farb
Anwendung
für die Elektronikindustrie, PCB
Weitere Eigenschaften
hochauflösend

Beschreibung

Beschreibung KI-gestützte AOI-Verifizierungsstation für HDI- und IC-Substrate mit minimalem Linien/Abstand bis 10 μm. AIVR kombiniert virtuelle (nachbearbeitete AOI-Bilder) und physische (Live-Video) Verifizierung in einer einzigen Workstation. AIVR 10μ ist für die Massenproduktion von HDI- und IC-Substraten ausgelegt und für die Verifizierung von 10–25 μm Linien/Abstand-Technologien optimiert. Im AIVR-Modus sichtet der Bediener Fehlerbilder, die vom AOI erfasst und mit KI-basierten Bildverbesserungsalgorithmen verarbeitet wurden, was ein schnelles Filtern offensichtlicher Fehlarme ermöglicht. Das System steigert die Verifizierungseffizienz und Durchsatz und integriert die Ergebnisse nahtlos in die Datenbank. Anwender können Fehler über einen optionalen Touchscreen klassifizieren und so QA in Echtzeit wichtiges Feedback geben. AIVR 10μ ist kompatibel mit allen AOI-Systemen von CIMS.

Highlights
  • Kombiniert Verifizierung nachbearbeiteter AOI-Bilder mit Live-Video-Modus
  • Bis zu 90% Steigerung der Verifizierungseffizienz gegenüber dem traditionellen Modus
  • Zeigt KI-verbesserte hochauflösende Farbfehlerbilder, direkt vom AOI erfasst
  • Variabler Zoom und automatisierte Kalibrierung
  • Stationärer Vakuumtisch
  • Ergonomisches Design
  • Klare Fehlerbilder und einstellbare Videoausleuchtung

Optionen
  • Auto-Marker zum Markieren von Fehlern
  • Barcode-Lesegerät
  • Verstellbarer Monitorarm
  • CDB™ / CDBIC™ – Fehlerklassifizierung und virtuelle Fehlermapping
  • SharpLight™ – verbesserte Videoabbildung

Technische Daten
  • Produktfamilie: AIVR
  • Anwendung: AOI-Verifizierung für HDI- und IC-Substrate
  • Minimal unterstützter Linien/Abstand: bis 10 μm (optimiert für 10–25 μm Technologie)
  • Modus: kombiniert virtuelle (nachbearbeitete AOI-Bilder) und physische (Live-Video) Verifizierung
  • Bildverarbeitung: KI-basierte Bildverbesserungsalgorithmen zum Filtern von Fehlar alarmen und zur Anzeige KI-verbesserter hochauflösender Farbfehlerbilder
  • Integration: nahtlose Integration mit Datenbank und QA-Feedback
  • Bedienerschnittstelle: optionaler Touchscreen zur Fehlerklassifizierung
  • Mechanische Merkmale: stationärer Vakuumtisch, ergonomisches Design, einstellbare Videobeleuchtung
  • Kalibrierung: variabler Zoom und automatisierte Kalibrierung
  • Kompatibilität: kompatibel mit allen AOI-Systemen von CIMS

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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.