Optisches Inspektionssystem Galaxy Flex 15μ
per VideosichtautomatisiertVideo

Optisches Inspektionssystem - Galaxy Flex 15μ - CIMS - per Videosicht / automatisiert / Video
Optisches Inspektionssystem - Galaxy Flex 15μ - CIMS - per Videosicht / automatisiert / Video
Zu meinen Favoriten hinzufügen
Zum Produktvergleich hinzufügen

Eigenschaften

Technologie
optisch, per Videosicht
Merkmal
automatisiert
Typ
zur Qualitätskontrolle, zur Fehlererkennung, visuell, Video
Anwendung
für Produktion, für die Elektronikindustrie, PCB
Konfigurierung
Inline
Weitere Eigenschaften
hochauflösend, computergesteuert, kontaktlos

Beschreibung

Beschreibung
Das Galaxy Flex 15μ AOI‑System ist für die Hochvolumeninspektion von Flex‑ und Rigid‑Flex‑Leiterplatten entwickelt und erkennt Linien/Abstände bis zu 15 μm. Die Kombination aus Microlight™ Gen II Optik und der Spark™ 3.0 Erkennungs‑Engine liefert hohe Bildqualität und anpassbare Erkennungsalgorithmen zur Erfüllung strenger Prüfanforderungen bei gleichzeitig geringer Fehlalarmrate. Galaxy Flex 15μ ermöglicht schnelle Job‑Einrichtung und Integration in automatisierte Fertigungslinien.

Highlights
  • Linearmotoren für gleichmäßige und geräuscharme Bewegung
  • Kompakte mechanische Plattform, optimiert für Hochvolumenfertigung
  • Leistungsstarke Bildverarbeitungs‑Firmware
  • Verbesserter Microlight™ Gen II Beleuchtungsblock für optimale Abdeckung
  • Schnelle und intuitive Einrichtung neuer Jobs
  • Kompatibel mit Front‑AMHS‑Automation und Roboterhandling

Optionen
  • +2DM™ Metrologie – Messung der Panel‑Abmessungen
  • +2CD™ Metrologie – 2D‑Messung von Schaltungselementen
  • +3DH™ Metrologie – 3D‑Messung der Bauteilhöhe
  • +3DP™ Metrologie – 3D‑Profilierung von Schaltungselementen
  • LDI™ – Laser‑Drill‑Inspektionsoption
  • CDB™/CDBIC™ – Fehlerklassifizierung und virtuelle Fehlerkartierung
  • VVS™ – Virtuelles Verifikationssystem

Spezifikationen
  • Anwendung: Automated Optical Inspection (AOI) für Flex‑ und Rigid‑Flex‑Leiterplatten
  • Minimal detektierbare Linie/Abstand: 15 μm
  • Optische Technologie: Microlight™ Gen II Beleuchtung
  • Erkennungs‑Engine: Spark™ 3.0 cross‑platform
  • Bewegungssystem: Linearmotoren für gleichmäßige und geräuscharme Bewegung
  • Plattform: Kompakte mechanische Plattform geeignet für Hochvolumenfertigung
  • Bildverarbeitung: Leistungsstarke Bildverarbeitungs‑Firmware
  • Beleuchtung: Verbesserter Beleuchtungsblock für optimale Abdeckung
  • Bedienkomfort: Schnelle und intuitive Einrichtung neuer Jobs
  • Automationskompatibilität: Kompatibel mit Front‑AMHS oder Roboterhandling
  • Verfügbare Metrologie‑ und Inspektionsoptionen: +2DM™, +2CD™, +3DH™, +3DP™, LDI™, CDB™/CDBIC™, VVS™

Weitere Produkte von CIMS

PCB Inspection and Metrology

* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.