BeschreibungDas Galaxy Flex 15μ AOI‑System ist für die Hochvolumeninspektion von Flex‑ und Rigid‑Flex‑Leiterplatten entwickelt und erkennt Linien/Abstände bis zu 15 μm. Die Kombination aus Microlight™ Gen II Optik und der Spark™ 3.0 Erkennungs‑Engine liefert hohe Bildqualität und anpassbare Erkennungsalgorithmen zur Erfüllung strenger Prüfanforderungen bei gleichzeitig geringer Fehlalarmrate. Galaxy Flex 15μ ermöglicht schnelle Job‑Einrichtung und Integration in automatisierte Fertigungslinien.
Highlights- Linearmotoren für gleichmäßige und geräuscharme Bewegung
- Kompakte mechanische Plattform, optimiert für Hochvolumenfertigung
- Leistungsstarke Bildverarbeitungs‑Firmware
- Verbesserter Microlight™ Gen II Beleuchtungsblock für optimale Abdeckung
- Schnelle und intuitive Einrichtung neuer Jobs
- Kompatibel mit Front‑AMHS‑Automation und Roboterhandling
Optionen- +2DM™ Metrologie – Messung der Panel‑Abmessungen
- +2CD™ Metrologie – 2D‑Messung von Schaltungselementen
- +3DH™ Metrologie – 3D‑Messung der Bauteilhöhe
- +3DP™ Metrologie – 3D‑Profilierung von Schaltungselementen
- LDI™ – Laser‑Drill‑Inspektionsoption
- CDB™/CDBIC™ – Fehlerklassifizierung und virtuelle Fehlerkartierung
- VVS™ – Virtuelles Verifikationssystem
Spezifikationen- Anwendung: Automated Optical Inspection (AOI) für Flex‑ und Rigid‑Flex‑Leiterplatten
- Minimal detektierbare Linie/Abstand: 15 μm
- Optische Technologie: Microlight™ Gen II Beleuchtung
- Erkennungs‑Engine: Spark™ 3.0 cross‑platform
- Bewegungssystem: Linearmotoren für gleichmäßige und geräuscharme Bewegung
- Plattform: Kompakte mechanische Plattform geeignet für Hochvolumenfertigung
- Bildverarbeitung: Leistungsstarke Bildverarbeitungs‑Firmware
- Beleuchtung: Verbesserter Beleuchtungsblock für optimale Abdeckung
- Bedienkomfort: Schnelle und intuitive Einrichtung neuer Jobs
- Automationskompatibilität: Kompatibel mit Front‑AMHS oder Roboterhandling
- Verfügbare Metrologie‑ und Inspektionsoptionen: +2DM™, +2CD™, +3DH™, +3DP™, LDI™, CDB™/CDBIC™, VVS™