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Optisches Inspektionssystem AIVR 7μ
digitalper VideosichtKamera

Optisches Inspektionssystem - AIVR 7μ - CIMS - digital / per Videosicht / Kamera
Optisches Inspektionssystem - AIVR 7μ - CIMS - digital / per Videosicht / Kamera
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Eigenschaften

Technologie
Kamera, optisch, digital, KI, per Videosicht
Merkmal
automatisiert
Typ
Qualität, zur Fehlererkennung, visuell, Video
Anwendung
für die Elektronikindustrie
Produktanwendung
für Wafer
Weitere Eigenschaften
hochauflösend, computergesteuert, kontaktlos

Beschreibung

Produktbeschreibung
KI-gestützte AOI-Prüfstation, die virtuelle und physische Verifikation in einem Arbeitsplatz vereint. AIVR 7μ wurde für die Serienfertigung von IC-Substraten entwickelt und ist optimiert für die Verifikation von Linien-/Spalten-Technologien 7–25 µm. Im AIVR-Modus prüft der Bediener von der AOI aufgenommene Defektbilder, die durch KI-Algorithmen verbessert wurden, um offensichtliche Fehlalarme schnell auszufiltern und echte Defekte zu priorisieren. Das System integriert Prüfresultate in die Produktionsdatenbank und erlaubt die Klassifizierung durch den Bediener per optionalem Touchscreen für sofortiges QA-Feedback.

Highlights
  • Kombiniert Verifikation von AOI-nachverarbeiteten Bildern mit Live-Video-Modus
  • Bis zu 90% Steigerung der Verifikations-Effizienz gegenüber dem traditionellen Modus
  • Zeigt KI-verbesserte, hochauflösende Farbbilder von Defekten direkt aus dem AOI
  • Variabler Zoom und automatische Kalibrierung
  • Stationärer Vakuumtisch für stabile Handhabung
  • Ergonomisches Stationsdesign
  • Klare Defektbilder und einstellbare Videoausleuchtung

Optionen
  • Auto-Markierer zum Kennzeichnen von Defekten
  • Barcode-Leser
  • Verstellbarer Monitorarm
  • CDB™/CDBIC™ — Defektklassifizierung und virtuelle Defektkartierung
  • SharpLight™ — verbesserte Videoabbildung

Kompatibilität und Betrieb
Arbeitet als Verifikationsstation, integriert mit AOI-Systemen. KI-basierte Bildverbesserung unterstützt das schnelle Filtern von Fehlalarmen und die Klassifizierungs-Workflows. Optionaler Touchscreen ermöglicht Bedienerklassifizierung und sofortiges Feedback an QA; Ergebnisse werden in die Produktionsdatenbank integriert.

Technische Daten
  • Modellname: AIVR 7μ
  • Anwendung: AOI-Verifikationsstation für IC-Substrate
  • Unterstützte Linien/Abstand-Technologie: optimiert für 7–25 µm, Minimum 7 µm
  • Verifikationsmodi: AOI-Nachbearbeitungsbild-Verifikation und Live-Video-Modus
  • Bildmerkmale: KI-verbesserte, hochauflösende Farbbilder von Defekten
  • Optik/Steuerung: variabler Zoom, automatische Kalibrierung, einstellbare Videoausleuchtung
  • Mechanik: stationärer Vakuumtisch, ergonomisches Design
  • Integration: kompatibel mit allen CIMS AOI; Ergebnisse integrierbar in Datenbank
  • Optionale Module: Auto-Markierer, Barcode-Leser, verstellbarer Monitorarm, CDB™/CDBIC™, SharpLight™

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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.