Optisches Inspektionssystem Galaxy PVH

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Beschreibung
Galaxy PVH ist ein AOI-System zur Inspektion von verschlossenen Vias (PVH) mit einem minimalen prüfbaren Bohrungsdurchmesser von 75 µm. Es inspiziert auf demselben Leiterplattenpanel sowohl harzgefüllte Durchgangslöcher als auch mit Laser gefüllte Vias und ist für die Serienfertigung von MLB und HDI-PCBs ausgelegt. Die PVH-Option erweitert die AOI-Fähigkeiten auf mechanisch und lasergebohrte Vias und erkennt zuverlässig Defekte innerhalb gefüllter Bohrungen.

Hauptmerkmale

• Hervorragende Detektion von Defekten in harzgefüllten Bohrungen
• Linearmotoren für ruhige und geräuscharme Bewegung
• Basierend auf der kompakten Galaxy-Plattform
• Hochleistungs-Firmware für Bildverarbeitung
• Leistungsfähige Prozessoren zur Verarbeitung großer Datenmengen
• Schnelles und intuitives Einrichten neuer Jobs
• Umfassende statistische Ausgaben für die Prozesskontrolle

Optionen

• Statistikpaket zur Berechnung von Bohrungsverschiebungen und Durchmesserabweichungen
• CDB™/CDBIC™ – Fehlerklassifizierung und virtuelle Fehlerkartierung
• VVS™ – virtuelles Verifikationssystem

Technische Daten

• Produkttyp: AOI-System für verschlossene Vias (PVH)
• Minimal prüfbarer Bohrungsdurchmesser: 75 µm
• Inspiziert sowohl harzgefüllte Durchgangslöcher als auch mit Laser gefüllte Vias auf demselben Panel
• Zielmärkte/Anwendungen: Serienfertigung von MLB und HDI-PCBs
• Optische Technologie: Microlight™ für optimierte Lichtabdeckung
• Detektion: anpassbare Detektionsalgorithmen für strenge Fehlererkennung
• Mechanik: Linearmotoren für ruhige und geräuscharme Bewegung
• Plattform: basierend auf der kompakten Galaxy-Plattform
• Verarbeitung: Hochleistungs-Firmware für Bildverarbeitung und leistungsfähige Prozessoren zur Handhabung großer Datenmengen
• Einrichtung: schnelles und intuitives Job-Setup
• Daten & Kontrolle: leistungsfähige Statistikpakete für Echtzeit-Prozesskontrolle und Kalibrierung von Laserbohrwerkzeugen
• Verfügbare Optionen: Statistikpaket für Bohrungsverschiebung/Durchmesserabweichungen, CDB™/CDBIC™ Klassifizierung und virtuelle Fehlerkartierung, VVS™ virtuelle Verifikation