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Optisches Inspektionssystem Galaxy 4Cχ
KameraautomatischMess

Optisches Inspektionssystem - Galaxy 4Cχ - CIMS - Kamera / automatisch / Mess
Optisches Inspektionssystem - Galaxy 4Cχ - CIMS - Kamera / automatisch / Mess
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Eigenschaften

Technologie
Kamera, optisch
Merkmal
automatisch
Typ
zur Fehlererkennung, Mess
Anwendung
für Produktion, für die Elektronikindustrie
Produktanwendung
für Wafer
Konfigurierung
Inline
Weitere Eigenschaften
hochauflösend, kontaktlos

Beschreibung

Beschreibung
  • Automatisierte optische Inspektion (AOI) für IC-Substrate mit minimal auflösbarer Linie/Abstand bis 4 µm.
  • Galaxy 4Cχ ist die neueste AOI-Generation von CIMS, ausgestattet mit Farbkamera und Prisma™ Gen II-Optik für kontraststarke Bildaufnahme bei Produktionsgeschwindigkeit.
  • Entwickelt zur Unterstützung der Serienfertigung von Next-Generation-IC-Substraten durch Kombination aus hochauflösendem Imaging und konfigurierbaren Erkennungsalgorithmen, angetrieben von Spark™ 3.0.
  • Modulare Optionen und Metrologie-Pakete ermöglichen Inline-Mess- und Inspektionsabläufe für Panels und Schaltungselemente.


Highlights
  • Linearmotoren für ruhige und geräuscharme Bewegung
  • Kompakte mechanische Plattform zur Integration in Fertigungsumgebungen
  • Hardware-Architektur der 6. Generation
  • Verbesserter Beleuchtungsblock mit optionaler X-WAVE™ Multi-Wellen-Funktion
  • Schnelle und intuitive Einrichtung neuer Jobs
  • Kompatibel mit Front-AMHS-Automation oder Robotertransport


Optionen
  • Fi™ — Endinspektionsoption für fertige Leiterplatten
  • +2DM™ Metrologie — Messung von Panel-Abmessungen
  • +2CD™ Metrologie — 2D-Messung von Schaltungselementen
  • +3DH™ Metrologie — 3D-Höhenmessung von Schaltungselementen
  • +3DP™ Metrologie — 3D-Profilierung von Schaltungselementen
  • LDI™ — Laserbohrinspektionsoption
  • CDB™/CDBIC™ — Defektklassifizierung und virtuelle Defektkartierung
  • VVS™ — Virtuelles Verifikationssystem
  • X-WAVE™ — Multi-Wellen-Beleuchtung


Technische Daten
  • Anwendung: Automatisierte optische Inspektion (AOI) für IC-Substrate
  • Minimale auflösbare Linie/Abstand: 4 µm
  • Kamera: Farbkamera
  • Optische Technologie: Prisma™ Gen II
  • Erkennungs-Engine: Spark™ 3.0 (cross-platform)
  • Bewegungssystem: Linearmotoren für ruhige, geräuscharme Bewegung
  • Mechanik: Kompakte Plattform für dichte Fabrikumgebungen
  • Hardware-Generation: 6. Generation
  • Beleuchtung: Verbesserter Beleuchtungsblock (X-WAVE™ optional)
  • Automationskompatibilität: Front-AMHS oder Roboter
  • Metrologie-Optionen: +2DM™, +2CD™, +3DH™, +3DP™
  • Weitere Optionen: Fi™ Endinspektion, LDI™ Laserbohrinspektion, CDB™/CDBIC™ Defektklassifizierung, VVS™ virtuelle Verifikation

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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.