Optisches Inspektionssystem Galaxy 30μ
per VideosichtKameraautomatisiert

Optisches Inspektionssystem - Galaxy 30μ - CIMS - per Videosicht / Kamera / automatisiert
Optisches Inspektionssystem - Galaxy 30μ - CIMS - per Videosicht / Kamera / automatisiert
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Eigenschaften

Technologie
Kamera, optisch, per Videosicht
Merkmal
automatisiert
Typ
zur Fehlererkennung, Mess, BGA, für Schweißarbeiten
Anwendung
PCB
Konfigurierung
Inline
Weitere Eigenschaften
hochauflösend, computergesteuert, kontaktlos

Beschreibung

Beschreibung AOI für HDI- und Mehrschicht-Leiterplatten mit einer minimalen Linien-/Zwischenraumbreite von bis zu 30 µm. Das CIMS-AOI-System „Galaxy 30μ“ wurde speziell für die Massenfertigung von HDI- und Mehrschicht-Leiterplatten entwickelt. Es ist in der Lage, Technologien mit einer Leiterbahn-/Abstandsbreite von bis zu 30 µm zu scannen. Die hochmoderne optische Technologie des Systems, Microlight™ Gen II, sorgt für eine optimale Lichtabdeckung, um selbst strengste Erkennungsanforderungen zu erfüllen. Durch die Kombination von überragender Bildqualität mit anpassbaren Erkennungsalgorithmen wird eine optimierte Leistung erzielt. Ausgestattet mit modernster Bildaufnahmetechnik und fortschrittlichen Softwarefunktionen ist die Galaxy-Produktfamilie bekannt für ihre außergewöhnliche Erkennungsleistung bei einer möglichst geringen Fehlalarmquote. Das Galaxy 30μ basiert auf Spark™ 3.0 – der plattformübergreifenden Erkennungs-Engine der neuesten Generation von CIMS. Highlights
  • Linearmotoren für sanfte und geräuscharme Bewegungen
  • Kompakte mechanische Plattform
  • Hochleistungsfähige Bildverarbeitungs-Firmware
  • Verbesserter Beleuchtungsblock
  • Schnelle und intuitive Einrichtung für neue Aufträge
  • Kompatibel mit AMHS-Automatisierung oder Robotern an der Vorderseite
Optionen
  • Fi™ – Option zur Endkontrolle fertiger Leiterplatten
  • +2DM™-Messtechnik – Messung der Panel-Abmessungen
  • +2CD™-Messtechnik – 2D-Messung von Schaltungselementen
  • LDI™ – Option zur Laserbohrungsprüfung
  • CDB™/CDBIC™ – Fehlerklassifizierung und virtuelle Fehlerkartierung
  • VVS™ – Virtuelles Verifizierungssystem
Technische Daten / Spezifikationen
  • Anwendung: Automatische optische Inspektion (AOI) für HDI- und Mehrschicht-Leiterplatten
  • Mindestabstand zwischen Leiterbahnen und Freiräumen: 30 µm
  • Optische Technologie: Microlight™ Gen II
  • Erkennungsengine: Spark™ 3.0 (plattformübergreifende Erkennungsengine der neuesten Generation von CIMS)
  • Bildaufnahme: Modernste Bildaufnahme und fortschrittliche Softwarefunktionen
  • Erkennungsleistung: Hervorragende Erkennung mit möglichst geringer Falschauslösungsrate
  • Bewegungssystem: Linearmotoren für sanfte und geräuscharme Bewegung
  • Mechanische Plattform: Kompakt
  • Firmware: Hochleistungsfähige Bildverarbeitungs-Firmware
  • Beleuchtung: Verbesserter Beleuchtungsblock
  • Einrichtung: Schnelle und intuitive Einrichtung für neue Aufträge
  • Automatisierungskompatibilität: Kompatibel mit AMHS-Frontautomatisierung oder Robotern
  • Verfügbare optionale Module: Fi™, +2DM™, +2CD™, LDI™, CDB™/CDBIC™, VVS™

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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.