Aussteller werden
*mydirectindustry  
Deutsch
  1. Metrologie - Labor
  2. Inspektion und Überwachung
  3. Optisches Inspektionssystem
  4. CIMS

Optisches Inspektionssystem Galaxy Fi 15Cμ
KameraMesszur Fehlererkennung

Optisches Inspektionssystem - Galaxy Fi 15Cμ - CIMS - Kamera / Mess / zur Fehlererkennung
Optisches Inspektionssystem - Galaxy Fi 15Cμ - CIMS - Kamera / Mess / zur Fehlererkennung
Zu meinen Favoriten hinzufügen
Zum Produktvergleich hinzufügen

Eigenschaften

Technologie
Kamera, optisch
Typ
zur Qualitätskontrolle, zur Fehlererkennung, Mess, Farb
Anwendung
für die Elektronikindustrie
Weitere Eigenschaften
hochauflösend

Beschreibung

Beschreibung
Galaxy Fi 15Cμ ist ein panelbasiertes Endprüfsystem, entwickelt für die Endprüfung von Standard-IC-Substraten, HDI- und MLB-Leiterplatten. Es verfügt über eine hochauflösende Farbkamera und eine für bis zu 15 µm Leiterbahn/Abstand optimierte Optik, die hohen Kontrast auf Lötstopplack, aufgetragenem Kupfer, vergoldeten/OTC-Oberflächen und nacktem Laminat gewährleistet.

Highlights
  • Linearmotoren für ruhige und geräuscharme Bewegung
  • Robuste mechanische Struktur mit automatisiertem Vakuumtisch
  • Hochleistungsfähige Bildaufnahme- und Verarbeitungs-Firmware
  • Next-Generation-Computerarchitektur zur Verarbeitung großer Datenmengen
  • Schnelle und intuitive Einrichtung neuer Jobs zur Verkürzung von Rüstzeiten
  • Kompatibel mit Front/Back AMHS-Automation oder Roboterintegration

Optionen
  • +2DM™ Metrologie – Messung der Panel-Abmessungen
  • +2CD™ Metrologie – 2D-Messung von Schaltungselementen
  • +3DH™ Metrologie – 3D-Messungen der Bauteilhöhe
  • +3DP™ Metrologie – 3D-Profiling von Schaltungselementen
  • CDB™/CDBIC™ – Fehlerklassifizierung und virtuelle Fehlerkartierung
  • X-WAVE™ – Multi-Wellenlängen-Beleuchtung

Technische Spezifikationen
  • Anwendung: Panel-Endprüfung für Standard-IC-Substrate, HDI- und MLB-Leiterplatten
  • Minimale auflösbare Leiterbahn/Abstand: 15 µm
  • Bildgebung: Farbkamera mit hochauflösender Bildaufnahme
  • Optische Leistung: Optimiert für maximalen Kontrast auf Lötstopplack, kupferplattierten, vergoldeten/OTC-Oberflächen und nacktem Laminat
  • Erkennungs-Engine: Spark™ 3.0 cross-platform detection engine
  • Bewegungssystem: Linearmotoren für ruhige und geräuscharme Bewegung
  • Mechanik: Robuste mechanische Struktur mit automatisiertem Vakuumtisch
  • Verarbeitung: Hochleistungs-Bildverarbeitungs-Firmware und Next-Generation-Computer für große Datenmengen
  • Bedienbarkeit: Schnelle und intuitive Einrichtung neuer Jobs
  • Automation: Kompatibel mit Front/Back AMHS-Automation oder Roboter
  • Optionale Metrologie- und Inspektionsfunktionen: 2DM™, 2CD™, 3DH™, 3DP™, CDB™/CDBIC™, X-WAVE™

Weitere Produkte von CIMS

PCB Inspection and Metrology

* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.