BeschreibungAIVR ist eine CIMS KI-gestützte Prüfstation, die virtuelle und physische Verifizierung in einer einzigen Arbeitsstation kombiniert. Die CIMS AIVR 5μ ist für die Serienfertigung von IC-Substraten ausgelegt und für die Überprüfung von 5–25 µm Linien-/Abstandstechnologien optimiert. Im AIVR-Modus prüft der Bediener die von AOI erfassten und mit KI-basierten Bildverbesserungsalgorithmen verarbeiteten Fehlerbilder, wodurch offensichtliche Fehldetektionen schnell ausgefiltert werden können. Der Einsatz von AIVR erhöht die Effizienz und Geschwindigkeit der Verifikation und integriert die Ergebnisse in die Produktionsdatenbank. Ein optionales Touchscreen ermöglicht die schnelle Klassifizierung von Fehlern und Echtzeit-Feedback an QA. AIVR 5μ ist mit allen CIMS AOI kompatibel.
Hauptmerkmale- Kombiniert Verifizierung von AOI-nachbearbeiteten Bildern mit Live-Video-Modus
- Bis zu 90% Steigerung der Prüf-Effizienz gegenüber dem traditionellen Modus
- Anzeige KI-verbesserter hochauflösender Farbbilder von Fehlern, direkt vom AOI
- Variabler Zoom und automatische Kalibrierung
- Stationärer Vakuumtisch
- Ergonomisches Design
- Klares Fehlerbild mit einstellbarer Video-Beleuchtung
Optionen- Auto-Marker zum Markieren von Fehlern
- Barcode-Scanner
- Verstellbarer Monitorarm
- CDB™/CDBIC™ – Fehlerklassifikation und virtuelle Fehlerkartierung
- SharpLight™ – verbesserte Videoabbildung
Technische Daten- Modell: AIVR 5μ
- Anwendung: KI-gestützte AOI-Prüfstation für IC-Substrate
- Unterstützte Linien/Abstands-Technologie: 5–25 µm
- Verifizierungsmodi: virtuelle und physische Verifizierung in einer Station; AOI-nachbearbeitete Bilder und Live-Video
- Funktionen: KI-basierte Bildverbesserung, variabler Zoom, automatische Kalibrierung, stationärer Vakuumtisch, ergonomisches Design, einstellbare Video-Beleuchtung
- Kompatibilität: Kompatibel mit allen CIMS AOI
- Optionales Touchscreen für Fehlerklassifikation und QA-Feedback in Echtzeit
- Optionen: Auto-Marker, Barcode-Scanner, verstellbarer Monitorarm, CDB™/CDBIC™, SharpLight™