Optisches Inspektionssystem SVS 8μ
per VideosichtKameraautomatisiert

Optisches Inspektionssystem - SVS 8μ - CIMS - per Videosicht / Kamera / automatisiert
Optisches Inspektionssystem - SVS 8μ - CIMS - per Videosicht / Kamera / automatisiert
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Eigenschaften

Technologie
Kamera, optisch, per Videosicht
Merkmal
automatisiert
Typ
visuell, Video, für spiegelnde Oberflächen
Anwendung
für die Elektronikindustrie, PCB
Weitere Eigenschaften
hochauflösend, computergesteuert, kontaktlos

Beschreibung

Beschreibung
Die SVS 8μ CIMS ist eine AVI-Prüfstation für IC-Substrate, entwickelt zur Verifikation von Streifen, die mit AVI-Systemen gescannt wurden, mit einer minimalen Linien/Finger-Auflösung bis 8 µm. Angetrieben von Sprint™ ist die Station für Technologien mit Linien/Finger-Breiten von 8–12 µm optimiert und erlaubt präzise Fehlerbehandlung bei hohem Durchsatz.

Optik & Beleuchtung
Das System kombiniert einen reflektierenden/coaxialen Lichtkanal mit drei separaten diffusen Kanälen, um den Kontrast auf Goldoberflächen und Lötmasken zu maximieren. Die Optik liefert klare Fehlerbilder und erleichtert das Markieren oder Ausschleusen defekter Einheiten. Robuste Mechanik und industrietaugliche Hardware gewährleisten stabile Leistung.

Bedienkomfort & Kompatibilität
Die SVS 8μ verfügt über eine ergonomische Benutzeroberfläche, die nur minimale Schulung erfordert. Sie ist vollständig kompatibel mit CDB™ und CDBIC™ zur Verwaltung von Fehlern und ausgeschleusten Einheiten und interoperabel mit allen CIMS AVI-Systemen sowie Laserbeschriftungsgeräten von Drittanbietern.

Highlights
  • Flexible Videolicht-Konfigurationen
  • Automatisierte Materialkalibrierung
  • Stationärer Vakuumtisch
  • Ergonomisches Design für Bedienkomfort
  • Optimierte Fehler-zu-Fehler-Bewegung für Durchsatz
  • Klare Fehlerbilder mit einstellbarem Videolicht

Optionen
  • Barcode-Leser
  • Verstellbare Monitorposition
  • CDB™/CDBIC™ — Fehlerklassifizierung und virtuelle Fehlerabbildung

Technische Daten
  • Modell: SVS 8μ
  • Brand: CIMS
  • Anwendung: AVI-Prüfstation für IC-Substrate
  • Minimale Linien/Finger-Auflösung: bis 8 µm
  • Optimiert für Linien/Finger-Breiten: 8–12 µm
  • Beleuchtung: reflektierender/coaxialer Kanal plus drei diffuse Kanäle
  • Optik: ausgelegt für hohen Kontrast auf Goldoberflächen und Lötmasken
  • Fehlerbehandlung: Markieren oder Ausschleusen defekter Einheiten
  • Mechanik & Hardware: robuste Mechanik und industriefähige Hardware für hohen Durchsatz
  • Benutzeroberfläche: ergonomisch, minimale Schulung erforderlich
  • Kompatibilität: kompatibel mit CIMS AVI-Systemen und Laserbeschriftungsgeräten Dritter
  • Datenmanagement: kompatibel mit CDB™ und CDBIC™
  • Optionale Merkmale: Barcode-Leser; verstellbare Monitorposition; Fehlerklassifizierung und virtuelle Fehlerabbildung
  • Spezialfunktionen: automatisierte Materialkalibrierung; stationärer Vakuumtisch; optimierte Fehler-zu-Fehler-Bewegung; einstellbares Videolicht
  • Software: angetrieben von Sprint™

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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.