BeschreibungAOI-System zur Inspektion flexibler Leiterplatten (FPC) im Roll-to-Roll-Fertigungsprozess. Das Galaxy R2R 30µ wurde für die R2R-Produktion von Flex- und Rigid-Flex-Leiterplatten entwickelt und detektiert Linien/Abstände bis 30 µm. Die Microlight™ Gen II-Beleuchtung sorgt für optimierte Lichtabdeckung, während die Spark™ 3.0 Erkennungs-Engine und die fortschrittliche Bildakquisition hohe Detektionssensitivität bei geringstmöglicher Falsch-Erkennungsrate bieten.
Hauptmerkmale- Linearmotoren für ruhige und leise Bewegung
- Kompakte mechanische Plattform
- Hochleistungs-Firmware zur Bildverarbeitung
- Verbesserter Beleuchtungsblock
- Schnelle und intuitive Einrichtung neuer Jobs
- Kompatibel mit Front-AMHS-Automation oder Roboter
Optionen- +2DM™ Metrologie – Messung von Panel-Abmessungen
- +2CD™ Metrologie – 2D-Messung von Leitungselementen
- LDI™ – Option zur Inspektion von Laserbohrungen
- CDB™/CDBIC™ – Defektklassifikation und virtuelle Defektkartierung
- VVS™ – virtuelles Verifikationssystem
Technische Daten- Anwendung: Automatisierte optische Inspektion (AOI) für FPC im Roll-to-Roll-(R2R)-Prozess
- Minimale detektierbare Linie/Abstand: 30 µm
- Optische Technologie: Microlight™ Gen II Beleuchtung
- Erkennungs-Engine: Spark™ 3.0 cross-platform
- Bildakquisition & Software: moderne Bildakquisition mit fortschrittlichen Erkennungsalgorithmen
- Detektionsleistung: hohe Sensitivität bei geringstmöglicher Falsch-Erkennungsrate
- Bewegungssystem: Linearmotoren für ruhigen und leisen Lauf
- Mechanik: kompaktes Plattformdesign geeignet für R2R-Linien
- Beleuchtung: verbesserter Beleuchtungsblock für optimale Abdeckung
- Einrichtung: schnelle und intuitive Job-Einrichtung
- Automationskompatibilität: kompatibel mit Front-AMHS oder Roboterintegration
- Optionale Module: +2DM™, +2CD™, LDI™, CDB™/CDBIC™, VVS™