Unilaxialer Beschleunigungsmesser FUTURESES H40

piezoresistivMEMSanalog

Übersicht
Der FUTURESES H40 ist ein miniaturisierter, einachsiger piezoresistiver Beschleunigungssensor mit analogem Spannungsausgang, entwickelt für dynamische Aufprallprüfungen wie Fußgänger-Crashtests. Er bietet sehr geringe Masse bei hoher Stoßfestigkeit, um Messverfälschungen an Teststrukturen zu minimieren.

Technologie
Der Sensor basiert auf bewährter MEMS-Piezoresistivtechnik mit vier veränderlichen Widerständen in einer Wheatstone-Brückenschaltung. Er liefert einen weiten Dynamikbereich von DC (0 Hz) bis 1000 Hz, ist kritisch gedämpft für eine präzise Transientenantwort und weist ein Dämpfungsmaß von 0,7 auf.

Gehäuse und Konfektion
Verschiedene Konfigurationsoptionen sind verfügbar: konfigurierbare integrierte Kabellängen, unterschiedliche Steckervarianten und die Option zur Integration eines Dallas DS2401 Identifikationschips. Das leichte Gehäuse ist optimiert, um die Massenbelastung an Prüfstücken zu reduzieren.

Anwendungen
Als miniaturisierter einachsiger Aufnehmer konzipiert, eignet sich der H40 für Fußgänger-Crashtests und ähnliche dynamische Messungen mit hohen Aufprallbelastungen. Einsatzgebiete sind die Optimierung von Fahrzeugfronten, Windschutzscheiben und die Bewertung möglicher Aufprallverletzungen an Kopf, Rumpf und Beinen.

Umgebungsbedingungen
Betriebstemperaturbereich: -40 °C bis +85 °C. Die robuste Auslegung gewährleistet zuverlässige Messungen unter massiven Stoß- und Temperatureinflüssen.

Technische Daten

• Modell: FUTURESES H40
• Sensortyp: Beschleunigungssensor (analoger Spannungsausgang)
• Sensortechnologie: Piezoresistiv (MEMS, Wheatstone-Brücke)
• Anzahl der Achsen: Einachsig
• Signalausgang: Analoge Spannung
• Messbereiche (wählbar): ±200 g, ±500 g, ±2000 g
• Frequenzbereich / nutzbare Bandbreite: DC (0 Hz) bis 1000 Hz (±10 %), kritisch gedämpft
• Dämpfungsmaß: 0,7
• Stoßfestigkeit: bis zu 10.000 g
• Gehäuse / Optionen: konfigurierbare Kabellängen, Stecker-Varianten, optionaler Dallas DS2401 ID-Chip
• Betriebstemperatur: -40 °C bis +85 °C
• Konstruktion: miniaturisiert und leicht zur Minimierung der Massenbelastung von Prüfstrukturen