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Carl Zeiss Mikroskope
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Digitalmikroskop mit MALS™ Technologie: visuelle Inspektion mit erweiteter Tiefenschärfe in Echtzeit Klassische Inspektionssysteme haben oft eine geringe Tiefenschärfe: Das kann dazu führen, dass die Probe teilweise unscharf abgebildet ...
ZEISS Métrologie industrielle
Vergrößerung: 2.020 unit
Räumliche Auflösung: 0,56 µm
Gewicht: 30, 22 kg
... Digitalmikroskop für Anwendungen in der Qualitätssicherung in praktisch allen Industriebereichen. Dieses voll automatisierte Mikroskop, das mit dedizierten Komponenten für Qualitätssicherung und ‑kontrolle ausgerüstet ...
ZEISS Métrologie industrielle
Kombinieren Sie erstklassige FE-SEM-Leistung mit FIB-Bearbeitung: ZEISS Crossbeam verbindet die Imaging- und Analyseleistung eines hochauflösenden Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops (FE-SEM) mit den Bearbeitungsfunktionen eines ...
ZEISS Métrologie industrielle
Die Produktfamilie ZEISS Sigma verbindet die Technologie des Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops (FE-SEM) mit einer hervorragenden Benutzerfreundlichkeit. Sie können Ihre Bildgebungs- und Analyseroutinen strukturieren und Ihre Produktivität ...
ZEISS Métrologie industrielle
Die Systeme der EVO-Produktfamilie kombinieren leistungsstarke Rasterelektronenmikroskopie mit einem intuitiven Bedienkonzept, das für erfahrene und neue Anwender gleichermaßen gut geeignet ist. EVO kann dank seiner umfangreichen Optionen ...
ZEISS Métrologie industrielle
Räumliche Auflösung: 1,2, 0,7 nm
ZEISS GeminiSEM steht für müheloses Imaging mit Auflösungen im Subnanometerbereich. Diese FE-SEMS (Feldemissions-Rasterelektronenmikroskope) verbinden Kompetenz in Imaging und Analytik. Dank der Innovationen in der Elektronenoptik und ...
ZEISS Métrologie industrielle
Gewicht: 20, 14, 32 kg
Länge: 458,5, 240 mm
Breite: 429, 293,5 mm
... motorisierte Variante Axioscope 7 bietet Ihnen die Möglichkeit, ganze Untersuchungsabläufe zu automatisieren – was dieses Mikroskop schnell zu einem gerne genutzten Gerät im Labor machen wird.
ZEISS Métrologie industrielle
Gewicht: 27, 36, 30 kg
Länge: 805 mm
Breite: 295 mm
Untersuchen, entwickeln und analysieren Sie Materialien, insbesondere metallografische Proben, in kürzester Zeit – mit ZEISS Axio Observer. Das System bietet Ihnen alle Vorteile der inversen Bauweise. Axio Observer vereint die Qualität ...
ZEISS Métrologie industrielle
Vergrößerung: 1 unit - 150 unit
... einer maximalen Höhe von bis zu 254 mm. Ganz gleich, ob Sie schwere Proben untersuchen oder das konfokale Laser-Scanning-Mikroskop ZEISS LSM für die Materialforschung benötigen – die robuste Säulenbauform sorgt zuverlässig ...
ZEISS Métrologie industrielle
Vergrößerung: 1 unit - 100 unit
Gewicht: 40, 18 kg
Länge: 721 mm
Erleichtern Sie Ihren Workflow für lichtmikroskopische Untersuchungen in der erweiterten Materialforschung. Und profitieren Sie von präzisen und reproduzierbaren Ergebnissen mit ZEISS Axio Imager 2. Dieses System wurde mit Blick auf die ...
ZEISS Métrologie industrielle
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