Erreichen Sie das ganze Jahr über neue Kunden an einem einzigen Ort
Aussteller werden
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Räumliche Auflösung: 0,2 µm
Gewicht: 9 kg
Länge: 587 mm
... sicher, dass sich die Mitte eines Bildes beim Objektivwechsel nicht verändert. Beleuchtungssysteme Olympus bietet eine große Auswahl an externen Lichtquellen für Ihre Prüfungsanforderungen. Wählen Sie zwischen Standard-Halogen-, ...
Räumliche Auflösung: 1 µm
... Die Mikroskopsysteme MX63 und MX63L sind für die hochwertige Inspektion von Wafern bis 300 mm Größe, Flachbildschirmen, Leiterplatten und anderen großen Proben optimiert. Der modulare Aufbau ermöglicht ...
... ) wird beim Einsatz des Leica DM8000 M nicht nur das Auflösungsvermögen, sondern auch der Durchsatz bei der Inspektion von Proben mit 8 Zoll/200 mm Durchmesser gesteigert. Die Beleuchtung basiert auf modernster LED-Technologie ...
Leica Microsystems GmbH
Digitales Mikroskop für Fehleranalyse, Qualitätssicherung und -kontrolle, Forschung und Entwicklung oder Forensik. Die hervorragende Optik, die intuitive Bedienung und die intelligente Software ermöglichen es dem Anwender, ...
Leica Microsystems GmbH
... beim Lampenwechsel, und Sie profitieren von einer konstanten Farbtemparatur bei der Untersuchung Ihrer Proben. Präziser Vergrößerungswechsel Proben mit einer Höhe von bis zu 80 mm können mit dem ...
Leica Microsystems GmbH
... Imager Vario untersuchen Sie große Proben wie Ihre Leiterplatten, Wafer und Solarzellen jetzt zerstörungsfrei in einem Stück. Nutzen Sie den XXL-Probenraum mit seinen 300 Millimetern horizontaler und ...
ZEISS Industrial Metrology
... Mehrfachanalyse ausgestattet. Inverses Mikroskop der Einstiegsklasse für allgemeine Anwendungen zur Härteprüfung. Inverses Mikroskop für Industrie und Materialwissenschaft, speziell entwickelt für undurchsichtige ...
Vergrößerung: 1 unit - 150 unit
... Untersuchung großer Proben Wählen Sie zwischen einer manuellen und einer motorischen Säule und untersuchen Sie Proben mit einer maximalen Größe von bis zu 300 × 300 ...
Vergrößerung: 1 unit - 100 unit
Länge: 295 mm
Breite: 215 mm
Das Nikon ECLIPSE MA200 ist ein flexibles, modulares, inverses Mikroskop im innovativen Box-Design für episkopische optische Kontrastverfahren in Verbindung mit Zubehör für die digitale Bildverarbeitung. Es ist ideal ...
Nikon Metrology
... Park NX20 ist eine AFM-Plattform für alle Forschungslabore, die mit Proben bis zu 200 mm arbeiten. Von akademischen Anwendungen über Halbleiter und Fehleranalyse bietet NX20 einzigartige Funktionen wie genaue und reproduzierbare ...
Räumliche Auflösung: 5 µm - 110 µm
... AFM können solche Merkmale unter Umgebungsbedingungen leicht analysiert werden. Die meisten AFMs sind in der Art und Größe der Proben, die sie verarbeiten können, begrenzt. Das NaniteAFM von Nanosurf ...
Erreichen Sie das ganze Jahr über neue Kunden an einem einzigen Ort
Aussteller werden
Andere (bitte angeben)
Helfen Sie uns, uns zu verbessern:
Zeichen übrig