Mikroskope für große Proben

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optisches Mikroskop
optisches Mikroskop
ZEISS Axiolab 5

Vergrößerung: 20 unit
Länge: 304 mm
Breite: 210 mm

... rechts am Stativ und das Bild wird aufgenommen – einfacher geht es nicht. Sie können Mikroskop und Kamera bedienen, ohne umgreifen zu müssen und sich ganz auf die Probe konzentrieren. Clevere Ergonomie ...

Röntgenmikroskop
Röntgenmikroskop
ZEISS XRADIA Context microCT

... feiner Details auch bei relativ großen Imaging-Volumen. Das System verfügt über ein großes Sehfeld und überzeugt mit dem schnellen Einsetzen und Ausrichten von Proben, optimierten Aufnahme-Workflows ...

modulares Mikroskop
modulares Mikroskop
BXFM

Räumliche Auflösung: 0,2 µm
Gewicht: 9 kg
Länge: 587 mm

... sicher, dass sich die Mitte eines Bildes beim Objektivwechsel nicht verändert. Beleuchtungssysteme Olympus bietet eine große Auswahl an externen Lichtquellen für Ihre Prüfungsanforderungen. Wählen Sie zwischen Standard-Halogen-, ...

optisches Mikroskop
optisches Mikroskop
MX63 series

Räumliche Auflösung: 1 µm

... Die Mikroskopsysteme MX63 und MX63L sind für die hochwertige Inspektion von Wafern bis 300 mm Größe, Flachbildschirmen, Leiterplatten und anderen großen Proben optimiert. Der modulare Aufbau ermöglicht ...

Inspektionsmikroskop
Inspektionsmikroskop
DM8000 M

... ) wird beim Einsatz des Leica DM8000 M nicht nur das Auflösungsvermögen, sondern auch der Durchsatz bei der Inspektion von Proben mit 8 Zoll/200 mm Durchmesser gesteigert. Die Beleuchtung basiert auf modernster LED-Technologie ...

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Leica Microsystems GmbH
opto-digitales Mikroskop
opto-digitales Mikroskop
DVM6

Digitales Mikroskop für Fehleranalyse, Qualitätssicherung und -kontrolle, Forschung und Entwicklung oder Forensik. Die hervorragende Optik, die intuitive Bedienung und die intelligente Software ermöglichen es dem Anwender, ...

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Mikroskop für die Materialanalyse
Mikroskop für die Materialanalyse
DM1750 M

... beim Lampenwechsel, und Sie profitieren von einer konstanten Farbtemparatur bei der Untersuchung Ihrer Proben. Präziser Vergrößerungswechsel Proben mit einer Höhe von bis zu 80 mm können mit dem ...

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AFM-Mikroskop
AFM-Mikroskop
Nanite

... Beschränkungen für Proben - Keine Die Qualitäts- und Prozesskontrolle erfordert häufig die Analyse größerer Teile oder Komponenten, die nicht in kleinere Segmente unterteilt werden können. Ganz gleich, ob es sich um ...

Mikroskop für die Metallurgie
Mikroskop für die Metallurgie
DS series

... Mehrfachanalyse ausgestattet. Inverses Mikroskop der Einstiegsklasse für allgemeine Anwendungen zur Härteprüfung. Inverses Mikroskop für Industrie und Materialwissenschaft, speziell entwickelt für undurchsichtige ...

metallurgisches Mikroskop
metallurgisches Mikroskop
ECLIPSE MA200

Vergrößerung: 1 unit - 100 unit
Gewicht: 26 kg
Länge: 295 mm

Das Nikon ECLIPSE MA200 ist ein flexibles, modulares, inverses Mikroskop im innovativen Box-Design für episkopische optische Kontrastverfahren in Verbindung mit Zubehör für die digitale Bildverarbeitung. Es ist ideal ...

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AFM-Mikroskop
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NX20

... Park NX20 ist eine AFM-Plattform für alle Forschungslabore, die mit Proben bis zu 200 mm arbeiten. Von akademischen Anwendungen über Halbleiter und Fehleranalyse bietet NX20 einzigartige Funktionen wie genaue und reproduzierbare ...

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