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... ) wird beim Einsatz des Leica DM8000 M nicht nur das Auflösungsvermögen, sondern auch der Durchsatz bei der Inspektion von Proben mit 8 Zoll/200 mm Durchmesser gesteigert. Die Beleuchtung basiert auf modernster LED-Technologie und ist ...
Leica Microsystems GmbH
Das Digitalmikroskop DVM6 revolutioniert die Mikroskopie mit seiner innovativen Kippoptik. Diese Spitzentechnologie ermöglicht es dem Benutzer, den Winkel der Optik mühelos einzustellen, was eine beispiellose Flexibilität und Vielseitigkeit bei der Beobachtung ...
Leica Microsystems GmbH
... beim Lampenwechsel, und Sie profitieren von einer konstanten Farbtemparatur bei der Untersuchung Ihrer Proben. Präziser Vergrößerungswechsel Proben mit einer Höhe von bis zu 80 mm können mit dem 6- oder 7-fach Objektivrevolver ...
Leica Microsystems GmbH
... Mit inversen Mikroskopen sparen Sie Zeit und Geld. Anders als bei aufrechten Mikroskopen legen Sie Ihre Probe einfach auf den Objekttisch und fokussieren einmal auf die Oberfläche – sie bleibt bei allen ...
Leica Microsystems GmbH
Vergrößerung: 20 unit
Länge: 304 mm
Breite: 210 mm
... rechts am Stativ und das Bild wird aufgenommen – einfacher geht es nicht. Sie können Mikroskop und Kamera bedienen, ohne umgreifen zu müssen und sich ganz auf die Probe konzentrieren. Clevere Ergonomie für entspanntes ...
... feiner Details auch bei relativ großen Imaging-Volumen. Das System verfügt über ein großes Sehfeld und überzeugt mit dem schnellen Einsetzen und Ausrichten von Proben, optimierten Aufnahme-Workflows sowie kurzen Belichtungs- ...
Räumliche Auflösung: 0,2 µm
Gewicht: 9 kg
Länge: 587 mm
... sicher, dass sich die Mitte eines Bildes beim Objektivwechsel nicht verändert. Beleuchtungssysteme Olympus bietet eine große Auswahl an externen Lichtquellen für Ihre Prüfungsanforderungen. Wählen Sie zwischen Standard-Halogen-, Quecksilber- ...
Räumliche Auflösung: 1 µm
... Die Mikroskopsysteme MX63 und MX63L sind für die hochwertige Inspektion von Wafern bis 300 mm Größe, Flachbildschirmen, Leiterplatten und anderen großen Proben optimiert. Der modulare Aufbau ermöglicht es Ihnen, die Komponenten ...
... Mehrfachanalyse ausgestattet. Inverses Mikroskop der Einstiegsklasse für allgemeine Anwendungen zur Härteprüfung. Inverses Mikroskop für Industrie und Materialwissenschaft, speziell entwickelt für undurchsichtige Proben ...
... Park NX20 ist eine AFM-Plattform für alle Forschungslabore, die mit Proben bis zu 200 mm arbeiten. Von akademischen Anwendungen über Halbleiter und Fehleranalyse bietet NX20 einzigartige Funktionen wie genaue und reproduzierbare Messungen ...
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