Mikroskope zur Beobachtung

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STEM-Mikroskop
STEM-Mikroskop
Helios 5 Hydra

Räumliche Auflösung: 2, 5, 1, 4, 20 µm

... Das Thermo Scientific Helios 5 Hydra DualBeam (Plasma-fokussiertes Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskop, PFIB-SEM) ist ein vielseitiges, vielseitig einsetzbares Gerät, das über vier verschiedene Ionenspezies (Argon, Stickstoff, Sauerstoff ...

Elektronenmikroskop
Elektronenmikroskop
NE4000

... Das Hitachi NE4000 nanoEBAC ist ein elektronenstrahlbasiertes Prüfsystem für die elektrische Charakterisierung und EBAC-Analyse und Bildgebung von mikroelektronischen Bauteilverbindungen, Materialien und Komponenten. Die EBAC-Technik ...

opto-digitales Mikroskop
opto-digitales Mikroskop
AM7115MZTW

Vergrößerung: 10 unit - 50 unit
Gewicht: 135 g
Länge: 10,5 cm

Für die Makroansicht konzipiert, bietet die 5MP Edge AM7115MZTW ein breites Sichtfeld und eine große Schärfentiefe im Bereich von 10X-50X Vergrößerung. Mit erstaunlicher Bildqualität und flexibler Beleuchtung, die von der 5MP Edge-Serie ...

Mikroskop mit Spezialbeleuchtung
Mikroskop mit Spezialbeleuchtung
AM4117MT-G2FBW

Vergrößerung: 10 unit - 220 unit
Länge: 10,5 cm

Mit 465 nm Anregungslicht und einem 510-545 nm Emissions-Bandpassfilterbereich ist die AM4117MT-G2FBW die ideale Lösung für die selektive Isolierung und Beobachtung von Proben mit grüner Fluoreszenz. Die austauschbaren Kappen bieten ...

Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
SEM5000

Vergrößerung: 1 unit - 2.500.000 unit
Räumliche Auflösung: 1, 1,5, 0,8 nm
Gewicht: 950 kg

... CIQTEK SEM5000 ist ein hochauflösendes, funktionsreiches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM, FEG SEM). Erweiterte Spalte Design, Hochspannungs-Tunnel-Technologie (SuperTunnel), niedrige Aberration nicht Leckage magnetische ...

Rasterelektronenmikroskop mit fokussierter Ionensonde
Rasterelektronenmikroskop mit fokussierter Ionensonde
DB500

Räumliche Auflösung: 3, 1,2 nm

CIQTEK DB500 ist ein Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit einer fokussierten Ionenstrahlsäule für die Nanoanalyse und Probenvorbereitung, das mit „SuperTunnel“-Technologie, geringer Aberration und magnetfreiem Objektivdesign, niedriger ...

Inspektionsmikroskop
Inspektionsmikroskop
B-510MET

Vergrößerung: 5, 10, 20, 50 unit
Räumliche Auflösung: 2 µm
Gewicht: 12,3 kg

... Beobachtungsmodus: Hellfeld, einfaches polarisiertes Licht, schräge Beleuchtung bei Auflicht. Epi-Beleuchtung und Filter: X-LED8 mit weißer 8 W LED (6.300 K) mit Helligkeitsregelung. Mit Apertur- und Leuchtfeldblende und Schräglichtbeleuchtung. ...

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Optika Srl
TEM-Mikroskop
TEM-Mikroskop
JEM-ARM300F2

Gewicht: 100 kg

Bereits das JEOL 300kV-Flagschiff-TEM JEM-ARM300F „GRAND ARM“ markierte Rekorde in Auflösung und EDX-Geschwindigkeit. Mit dem Nachfolgemodell GRAND ARM™ 2 wurde die Stabilität des Systems in zahlreichen Aspekten maximiert. So ermöglicht ...

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Jeol
optisches Mikroskop
optisches Mikroskop
UM 620 BD

Vergrößerung: 50, 100, 200, 500 unit
Gewicht: 23 kg

... Optisches System CCIS Okular WF 10x (ø22mm) Plan achromatische Objektive langer Arbeitsabstand PL L 5x/O.15BD WD=II mm (für DIC-Beobachtung) PL L IOx/O.30BD WD=9,50mm (für DIC-Beobachtung) PL L 20x/O.45BD WD=3,40mm (für DIC-Beobachtung) PL ...

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echoENG
Mikroskop für die Metallurgie
Mikroskop für die Metallurgie
IMS20

Länge: 242 mm
Breite: 200 mm

... - IMS-20 umgekehrte Goldphasenmikroskopie nimmt ausgezeichnetes unendliches optisches System und modulares Funktionsdesignkonzept an, das das System leicht aufrüsten und die Funktionen der Polarlichtbeobachtung, Dunkelfeldbeobachtung ...

metallurgisches Mikroskop
metallurgisches Mikroskop
MM1000A

Vergrößerung: 10, 20, 50, 100 unit
Gewicht: 11 kg

■ Für Beobachtungen mit hoher Vergrößerung und metallurgische Bildanalyse ■ Unendliches optisches System, kann Zubehör wie Polarisator und Analysator in den Strahlengang integrieren, ohne die Bildqualität zu beeinträchtigen

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