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... effizienten Arbeitsablauf.Eingebauter Computer ermöglicht die Ausführung aller Funktionen und Software-Apps direkt auf dem Mikroskop. Flexibles und großes Sichtfeld (FOV) mit 25-fachem Zoom und 370 mm Arbeitstiefe für die Inspektion eines ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
Untersuchen, entwickeln und analysieren Sie Materialien, insbesondere metallografische Proben, in kürzester Zeit – mit ZEISS Axio Observer. Das System bietet Ihnen alle Vorteile der inversen Bauweise. Axio Observer vereint die Qualität der ZEISS Optik ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
Räumliche Auflösung: 0,7, 1,2 nm
ZEISS GeminiSEM steht für müheloses Imaging mit Auflösungen im Subnanometerbereich. Diese FE-SEMS (Feldemissions-Rasterelektronenmikroskope) verbinden Kompetenz in Imaging und Analytik. Dank der Innovationen in der Elektronenoptik und dem neuen Design ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
Die Systeme der EVO-Produktfamilie kombinieren leistungsstarke Rasterelektronenmikroskopie mit einem intuitiven Bedienkonzept, das für erfahrene und neue Anwender gleichermaßen gut geeignet ist. EVO kann dank seiner umfangreichen Optionen präzise auf ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
Kombinieren Sie erstklassige FE-SEM-Leistung mit FIB-Bearbeitung: ZEISS Crossbeam verbindet die Imaging- und Analyseleistung eines hochauflösenden Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops (FE-SEM) mit den Bearbeitungsfunktionen eines fokussierten Ionenstrahls ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
Die Produktfamilie ZEISS Sigma verbindet die Technologie des Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops (FE-SEM) mit einer hervorragenden Benutzerfreundlichkeit. Sie können Ihre Bildgebungs- und Analyseroutinen strukturieren und Ihre Produktivität steigern. ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... Digitalmikroskop mit MALS™ Technologie: visuelle Inspektion mit erweiteter Tiefenschärfe in Echtzeit Klassische Inspektionssysteme haben oft eine geringe Tiefenschärfe: Das kann dazu führen, dass die Probe teilweise unscharf abgebildet wird. In der ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
Vergrößerung: 1 unit - 100 unit
Gewicht: 40, 18 kg
Länge: 721 mm
Erleichtern Sie Ihren Workflow für lichtmikroskopische Untersuchungen in der erweiterten Materialforschung. Und profitieren Sie von präzisen und reproduzierbaren Ergebnissen mit ZEISS Axio Imager 2. Dieses System wurde mit Blick auf die Anwendungen in ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
Vergrößerung: 20 unit
Länge: 304 mm
Breite: 210 mm
... Mikroskop für routinemäßige Materialografie und smarte Dokumentation So einfach war die digitale Dokumentation noch nie. ZEISS Axiolab 5 ist die richtige Entscheidung, wenn Sie bei Ihren routinemäßigen Materialografie-Anwendungen hohe ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
Gewicht: 32, 14, 20 kg
Länge: 240, 458,5 mm
Breite: 293,5, 429 mm
... motorisierte Variante Axioscope 7 bietet Ihnen die Möglichkeit, ganze Untersuchungsabläufe zu automatisieren – was dieses Mikroskop schnell zu einem gerne genutzten Gerät im Labor machen wird. ...
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