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Vergrößerung: 5 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 15, 4, 3 nm
... Leistung und Power auf einer flexiblen Plattform Die Rasterelektronenmikroskope SU3800/SU3900 von Hitachi High-Tech bieten sowohl Bedienbarkeit als auch Erweiterbarkeit. Der Bediener kann viele Vorgänge automatisieren und ihre hohe Leistung ...
Vergrößerung: 50 unit - 2.000 unit
... dokumentiert werden, die eine genaue Inspektion und Bewertung möglich machen. Bei Legierungen, Kunststoffen, Keramiken und anderen Materialien erleichtert TIM5 die Arbeit erheblich, wenn herkömmliche Beleuchtung, Reflexionen ...
Das neue „Machine Vision Microscope“ (MVM) ist ein rein digitales Mikroskop mit allen Eigenschaften, die ein Mikroskop ausmachen. Es verfügt über ein apochromatisch hochkorrigiertes Mikroskopobjektiv ...
Kombinieren Sie erstklassige FE-SEM-Leistung mit FIB-Bearbeitung: ZEISS Crossbeam verbindet die Imaging- und Analyseleistung eines hochauflösenden Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops (FE-SEM) mit den Bearbeitungsfunktionen eines ...
ZEISS Métrologie industrielle
Gewicht: 10,5, 12,3, 11,7, 10,3 kg
Länge: 560 mm
Breite: 235, 220 mm
... Ihr routinemäßiges inverses Mikroskop für die Materialwissenschaft. Mikrostruktur- und Gefügeanalyse: Eine Frage des Kontrasts. Mit Axio Vert.A1 untersuchen Sie große, schwere Proben mit einer breiten Palette klassischer ...
Hitech Instruments
... Anwendung: Das Video-All-in-One-Gerät hat ein kompaktes und ansprechendes Design. Es verfügt über ein optisches Objektiv mit stufenlosem Zoom und eine hochauflösende Digitalkamera. Das Display, die Kamera und das Ringlicht werden alle ...
Shanghai Hualong Test Instruments Corporation
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