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Räumliche Auflösung: 7, 3, 8, 20 nm
Gewicht: 10 kg
... Das Thermo Scientific Axia ChemiSEM System wurde entwickelt, um die Komplexität der Mikroskopie zu verringern und die quantitative Elementaranalyse zu verbessern. Ausgestattet mit einer Wolframquelle und vollständig integrierten Funktionen für die energiedispersive ...
Räumliche Auflösung: 1,2, 0,6, 1, 0,7 nm
... Plasma-fokussiertes Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskop für die TEM-Probenpräparation, einschließlich 3D-Charakterisierung, Querschnitt und Mikrobearbeitung. Das Thermo Scientific Helios 5 Plasma FIB (PFIB) DualBeam (fokussiertes Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskop ...
... Vergrößerung oder die Kontrastmethode des Mikroskops ändern, müssen Sie die Helligkeit dank der Lichtmanagementfunktion nicht manuell anpassen. Die Beleuchtungseinstellungen werden dank der Codierung des Mikroskops automatisch ...
... Untersuchen, entwickeln und analysieren Sie Materialien, insbesondere metallografische Proben, in kürzester Zeit – mit ZEISS Axio Observer. Das System bietet Ihnen alle Vorteile der inversen Bauweise. Axio Observer vereint die Qualität ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
Die Systeme der EVO-Produktfamilie kombinieren leistungsstarke Rasterelektronenmikroskopie mit einem intuitiven Bedienkonzept, das für erfahrene und neue Anwender gleichermaßen gut geeignet ist. EVO kann dank seiner umfangreichen Optionen präzise auf ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
Kombinieren Sie erstklassige FE-SEM-Leistung mit FIB-Bearbeitung: ZEISS Crossbeam verbindet die Imaging- und Analyseleistung eines hochauflösenden Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops (FE-SEM) mit den Bearbeitungsfunktionen eines fokussierten Ionenstrahls ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
Vergrößerung: 5 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 15, 4, 3 nm
... Bei der SU3800/3900 VP-SEM-Familie liegt der Schwerpunkt auf der Produktivität. Diese Werkzeuge automatisieren sich wiederholende Aufgaben, sodass Sie in kurzer Zeit und mit geringem manuellem Aufwand reproduzierbare Ergebnisse erzielen können. Es stehen ...
Vergrößerung: 40 unit - 300.000 unit
Räumliche Auflösung: 4 nm - 8 nm
Gewicht: 120 kg
... Übersicht
- Das Tisch-Scanning-Elektronenmikroskop CEM3000A wurde für die Beobachtung von Mikrostruktur und die Analyse von Materialoberflächen entwickelt. Es ermöglicht hochkontrastreiche, groß Tiefenschärfe-Bildgebung mit Sekundär- (SE)
Vergrößerung: 10 unit - 220 unit
Räumliche Auflösung: 650 nm
Gewicht: 137 g
Mit dem Einsatz der neuesten innovativen Optik, ein komplett neues 5-Megapixel-Sensor und mehrere spezielle Features, ist das Dino-Lite AM7915MZT ein Wunder der Technik und die beste Wahl für anspruchsvolle Profis. Das Dino-Lite AM7915MZT bietet hervorragende ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Vergrößerung: 20 unit - 220 unit
Räumliche Auflösung: 650 nm
Gewicht: 135 g
Mit dem Einsatz der neuesten, innovativen Optik, ein komplett neues 5-Megapixel-Sensor und mehrere spezielle Features wie Flexible LED Control (FLC) und Alugehäuse ist das Dino-Lite AM7115MZT ein Wunder der Technik und die beste Wahl für anspruchsvolle ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Vergrößerung: 10 unit - 220 unit
Gewicht: 120 g
Länge: 130 mm
... Das AM8917MZT ist ein 8-Megapixel- Mikroskop, das die Grenzen der tragbaren digitalen Mikroskopie ausreizt und in der Lage ist, die winzigen Details des Ziels aufzudecken. Das Mikroskop liefert auch eine herausragende ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
... Das neue „Machine Vision Microscope“ (MVM) ist ein rein digitales Mikroskop mit allen Eigenschaften, die ein Mikroskop ausmachen. Es verfügt über ein apochromatisch hochkorrigiertes Mikroskopobjektiv sowie einer entsprechenden ...
Vergrößerung: 50 unit - 1.000 unit
... kohler Lighting System, Beleuchtung nimmt 30W Halogenlampe oder lange Lebensdauer LED-Licht, elektrisches System nimmt DC6V Niederspannungseingang Design, das sicher und zuverlässig zu bedienen ist. Aussehen entspricht ergonomischem Design, schön und ...
Vergrößerung: 300.000 unit
Räumliche Auflösung: 4, 7, 3 nm
Gewicht: 480 kg
CIQTEK SEM3200 ist ein Hochleistungs-Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop. Es verfügt sowohl im Hoch- als auch im Niedrigvakuummodus über eine hervorragende Bildqualität. Es verfügt außerdem über eine große Tiefenschärfe und eine benutzerfreundliche ...
CIQTEK Co., Ltd.
... 1. Anwendung Das metallographische Mikroskop HL401W ist ein trinokulares aufrechtes metallographisches Mikroskop, das eine hervorragende Bildqualität, ein stabiles Betriebssystem, eine einfache Bedienung und komplettes ...
Shanghai Hualong Test Instruments Corporation
Gewicht: 10,5, 12,3, 11,7, 10,3 kg
Länge: 560 mm
Breite: 235, 220 mm
... Ihr routinemäßiges inverses Mikroskop für die Materialwissenschaft. Mikrostruktur- und Gefügeanalyse: Eine Frage des Kontrasts. Mit Axio Vert.A1 untersuchen Sie große, schwere Proben mit einer breiten Palette klassischer und moderner ...
Hitech Instruments
Räumliche Auflösung: 0,02 µm
... Produktübersicht
Das Rasterkraftmikroskop (wafer-level AFM) ist ein hochauflösendes Rastersondeninstrument, das zur Charakterisierung der dreidimensionalen Oberflächenmorphologie und multifunktionaler Eigenschaften von Leitern, Halbleitern und ...
Vergrößerung: 0,7 unit - 4 unit
Höhe: 60 cm
... Universeller WIG-Binokular für präzises und sicheres Schweißen. Das WIG-Binokular ist für alle Arten und Marken von Schweißgeräten geeignet und bietet eine universelle Lösung für Profis und Enthusiasten. Mit einem abdunkelnden Bildschirm ausgestattet, ...
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