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Nutzen Sie das vollmotorisierte Inspektionsmikroskop DM6M mit allen Kontrastmodi und profitieren Sie von dem großen Vergrößerungsbereich ab 1,25x für einen schnellen Probenüberblick. Der Licht- und Kontrastmanager passt die erforderlichen Einstellungen ...
Leica Microsystems GmbH
... täglichen Mikroskopieabläufen von Effizienz und Komfort. Das Visoria M Materialmikroskop ist für Anwendungen in der Metall-, Elektronik- und Polymerindustrie sowie für Labore der Materialwissenschaft konzipiert. Optimieren Sie Ihre Arbeitsabläufe ...
Leica Microsystems GmbH
... täglichen Mikroskopieabläufen von Effizienz und Komfort. Das Visoria M Materialmikroskop ist für Anwendungen in der Metall-, Elektronik- und Polymerindustrie sowie für Labore der Materialwissenschaft konzipiert. Optimieren Sie Ihre Arbeitsabläufe ...
Leica Microsystems GmbH
Räumliche Auflösung: 0,7, 1, 0,6 nm
... Rasterelektronenmikroskopische Charakterisierung von Nanomaterialien mit Sub-Nanometer-Auflösung und hohem Materialkontrast. Verios 5 XHR Raster-Elektronenmikroskop Das Verios 5 XHR SEM bietet eine Subnanometerauflösung über den gesamten Energiebereich ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Vergrößerung: 6 unit - 2.500.000 unit
Räumliche Auflösung: 1, 1,3, 3, 0,8 nm
Breite: 340 mm
... Um wissenschaftliche Entdeckungen zu beschleunigen, sind leistungsstarke Datenanalysen erforderlich. Aber es braucht auch Vielseitigkeit. Mit dem Thermo Scientific Quattro ESEM können Sie das breiteste Probenspektrum aller Thermo Scientific SEMs analysieren. ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Räumliche Auflösung: 0,9, 0,8, 1, 1,2 nm
Gewicht: 5 kg
Breite: 340 mm
... Labors sind Mehrbenutzer-Einrichtungen, in denen Benutzer mit unterschiedlichem Erfahrungsgrad arbeiten können. Die Zeit am Mikroskop ist kostbar, und ein übermäßiger Zeitaufwand für Wartung, Justierung, Schulung oder Bildoptimierung ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
ZEISS Xradia Context ist ein anwenderfreundliches 3D-Mikro-Computertomographie-System (microCT) für die Analyse aller Probenarten. Ein hochformatiger Detektor ermöglicht die hohe Auflösung feiner Details auch bei relativ großen Imaging-Volumen. Das System ...
Vergrößerung: 5 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 15, 4, 3 nm
... Schottky-Feldemissionsoptiken zur Verfügung. Sowohl das SU3800 als auch das SU3900 verfügen über eine gemeinsame Software, Elektronik und Detektorplattform. Produktmerkmale: - Hocheffiziente Hitachi-Detektoren: -- Sekundärelektronendetektor ...
Vergrößerung: 1 unit - 330 unit
Räumliche Auflösung: 10 nm
... Übersicht
Das AIMsight Infrarot-(IR)-
Mikroskop ist ein automatisiertes FT-IR-Analysesystem, das auf maximale Automatisierung ausgelegt ist und die Effizienz bei der Analyse von Mikroproben, Defekten und Kontaminationen verbessert. ...
Vergrößerung: 32, 50, 6, 10 unit
... Ein kompaktes digitales Full-HD- Mikroskop für die schnelle und genaue Inspektion, genau dort, wo sie gebraucht wird. Hochwertige, maßgeschneiderte Optik und digitale Funktionen sorgen für überragende Leistung. Ideal für visuelle Inspektionen ...
Vision Engineering Ltd.
Vergrößerung: 50 unit
Gewicht: 45 kg
... Beleuchtungssystem liefert Bilder mit hervorragendem Kontrast und Auflösung. Nikon ECLIPSE L300N(D) und L200N(D) Diese Mikroskope sind für die außergewöhnlich präzise optische Inspektion von Wafern (200 mm für die L200N-Serie und ...
Nikon Metrology
Vergrößerung: 10 unit - 220 unit
Räumliche Auflösung: 650 nm
Gewicht: 137 g
... ist dieses Modell ideal für die Arbeit mit glänzenden oder reflektierenden Objekten wie Metall, Kunststoff, Glas, Schmuck, Elektronik, usw. Die wichtigsten Merkmale des AM7915MZT sind: • 5 Megapixel Edgesensor • Extended Depth of ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Gewicht: 97 g
Länge: 11,5 cm
... >: Flexible LED Control (FLC); Messfunktionen; Kalibrierung; Microtouch-Sensor; ESD-sicher.
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Vergrößerung: 5 unit - 50 unit
Gewicht: 105 g
Länge: 10,5 cm
... für Makroanwendungen mit einem größeren Bildfeld und einer Vergrößerungsfunktion zum Erkennen kleiner Details ist. Mit dem Mikroskop werden unterschiedliche Kappen geliefert, was das Dino-Lite Edge die perfekte Wahl für jede professionelle ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Vergrößerung: 5 unit - 100 unit
Räumliche Auflösung: 2 µm
Länge: 18 cm
... Produktbeschreibung
Das WY-C ist ein invertiertes Metallmikroskop mit professionellen Plan-Objektiven mit großem Arbeitsabstand und Plan-Okularen, das hochauflösende, kontraststarke Bilder und angenehme Beobachtung bietet. Es vereint eine robuste ...
Vergrößerung: 0 unit - 2.000 unit
... - WIFI connection&PC connection：Kompatibel mit mehreren Betriebssystemen, Echtzeit-Übertragung ohne Pufferung, klare Darstellung, leicht zu verstehen auf einen Blick - 2000X vergrößern：Kann Zellen beobachten, 2000x hochauflösende Vergrößerung, empfindliches ...
... ZTX-S Serie Zoom- Mikroskop nimmt optische Bildgebung System, mit hoher Auflösung, feine Definition und starken Sinn für dreidimensionale, einfache Bedienung.Das Mikroskop ist weit verbreitet in der Halbleiter-und integrierten ...
Ningbo Huaguang Precision Instrument Co., Ltd.
Vergrößerung: 300.000 unit
Räumliche Auflösung: 4, 7, 3 nm
Gewicht: 480 kg
CIQTEK SEM3200 ist ein Hochleistungs-Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop. Es verfügt sowohl im Hoch- als auch im Niedrigvakuummodus über eine hervorragende Bildqualität. Es verfügt außerdem über eine große Tiefenschärfe und eine benutzerfreundliche ...
CIQTEK Co., Ltd.
Gewicht: 8,5, 9,5, 10,1, 9,1 kg
Länge: 467 mm
Breite: 192 mm
... Primotech ist Ihre clevere Imaging-Lösung mit einem attraktiven Preis-Leistungs-Verhältnis. Greifen Sie kabellos auf mehrere Mikroskope zu - mit Matscope, der Imaging-App von ZEISS. Erleben Sie den effizienten und reibungslosen Arbeitsablauf ...
Räumliche Auflösung: 0,02 µm
... Produktübersicht
Das Rasterkraftmikroskop (wafer-level AFM) ist ein hochauflösendes Rastersondeninstrument, das zur Charakterisierung der dreidimensionalen Oberflächenmorphologie und multifunktionaler Eigenschaften von Leitern, Halbleitern und ...
Räumliche Auflösung: 1.300, 1.550, 1.100, 1.450 nm
... Übersicht
Dieses NIR‑
Mikroskop ist für die Nahinfrarot‑Bildgebung von Siliziumwafern von der Rückseite ausgelegt. Die Demonstrationen und Datensätze konzentrieren sich auf Wellenlängenvergleiche und Bildverarbeitungsabläufe, ...
Vergrößerung: 2 unit - 73 unit
Gewicht: 5 kg
Mit dem dem neu entwickelten Digitalmikroskop HD-Inspektor II steht dem Anwender ein innovativer, leistungsstarker Inspektions- und Kontrollarbeitsplatz zur Verfügung. Das Herzstück des Inspektionssystems ist eine intelligente HD-Kamera mit einem 30-fach ...
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