Rasterelektronenmikroskop Verios 5 XHR

Messtechnikfür Materialforschungfür Halbleiter

Rasterelektronenmikroskopische Charakterisierung von Nanomaterialien mit Sub-Nanometer-Auflösung und hohem Materialkontrast. Verios 5 XHR Raster-Elektronenmikroskop Das Verios 5 XHR SEM bietet eine Subnanometerauflösung über den gesamten Energiebereich von 1 keV bis 30 keV mit hervorragendem Materialkontrast. Dank des beispiellosen Automatisierungsgrades und der einfachen Bedienung ist diese Leistung für Benutzer aller Erfahrungsstufen zugänglich. Charakterisierung durch Rasterelektronenmikroskopie - Hochauflösende Abbildung von Nanomaterialien mit der monochromatischen Elektronenquelle UC+ für Leistungen im Sub-Nanometerbereich von 1-30 kV. - Hoher Kontrast bei empfindlichen Materialien mit hervorragender Leistung bis hinunter zu 20 eV Landeenergie und hochempfindlichen In-Column- und Below-the-Lens-Detektoren sowie Signalfilterung für dosisarmen Betrieb und optimale Kontrastauswahl. - Die Elstar-Elektronensäule mit SmartAlign- und FLASH-Technologien verkürzt die Zeit bis zum Erhalt von Informationen im Nanobereich für Benutzer mit beliebigem Erfahrungsstand erheblich. - Konsistente Messergebnisse mit ConstantPower-Objektiven, elektrostatischer Abtastung und einer Auswahl von zwei piezoelektrischen Tischen. - Flexibilität für Zubehör mit einer großen Kammer. - Unbeaufsichtigter SEM-Betrieb mit Thermo Scientific AutoScript 4 Software, einer optionalen Python-basierten Programmierschnittstelle SmartAlign-Technologie Die SmartAlign-Technologie macht eine Ausrichtung der Elektronensäule durch den Benutzer überflüssig, was nicht nur den Wartungsaufwand minimiert, sondern auch Ihre Produktivität erhöht.