Erreichen Sie das ganze Jahr über neue Kunden an einem einzigen Ort
Aussteller werden
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Vergrößerung: 160 unit - 200.000 unit
Räumliche Auflösung: 0 nm - 10 nm
Gewicht: 75 kg
... In der schnelllebigen Welt der Batterieherstellung und -analyse ist ein schneller Durchsatz alles. Aber auch eine präzise Partikelanalyse ist wichtig. Das Thermo Scientific Phenom ParticleX Battery Desktop SEM bietet Ihnen beides. Es bietet einen bis ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Vergrößerung: 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 10, 3, 2, 200, 400 nm
Gewicht: 75 kg
... Das Thermo Scientific Phenom Pharos G2 Desktop FEG-SEM wurde entwickelt, um Sie bei der Analyse kleiner Partikel mit hoher Auflösung zu unterstützen - und das in rasanter Geschwindigkeit. Ebenso wichtig für vielbeschäftigte Laborleiter ist jedoch, dass ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Räumliche Auflösung: 0,7, 1, 0,6 nm
... Charakterisierung von Nanomaterialien mit Sub-Nanometer-Auflösung und hohem Materialkontrast. Verios 5 XHR Raster- Elektronenmikroskop Das Verios 5 XHR SEM bietet eine Subnanometerauflösung über den gesamten Energiebereich von 1 keV ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Räumliche Auflösung: 0,7, 1,2 nm
ZEISS GeminiSEM steht für müheloses Imaging mit Auflösungen im Subnanometerbereich. Diese FE-SEMS (Feldemissions-Rasterelektronenmikroskope) verbinden Kompetenz in Imaging und Analytik. Dank der Innovationen in der Elektronenoptik und dem neuen Design ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
Die Systeme der EVO-Produktfamilie kombinieren leistungsstarke Rasterelektronenmikroskopie mit einem intuitiven Bedienkonzept, das für erfahrene und neue Anwender gleichermaßen gut geeignet ist. EVO kann dank seiner umfangreichen Optionen präzise auf ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
Kombinieren Sie erstklassige FE-SEM-Leistung mit FIB-Bearbeitung: ZEISS Crossbeam verbindet die Imaging- und Analyseleistung eines hochauflösenden Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops (FE-SEM) mit den Bearbeitungsfunktionen eines fokussierten Ionenstrahls ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... Das SU9000 II ist eine Kombination aus oberflächenabbildendem SEM und strukturauflösendem Rastertransmissionsmikroskop (STEM), die für eine extreme Auflösung optimiert ist. Ermöglicht wird dies durch die einzigartige Elektronenoptik des SU9000 II, die ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 0,6 nm
... Das SU8700 ist standardmäßig mit einer 150-mm-Probenschleuse ausgestattet und bietet einen hohen Probendurchsatz auch für größere Proben und eine konstant saubere Probenkammerumgebung für kontaminationsarme, hochauflösende Bildgebung. Darüber hinaus kann ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,7, 0,6 nm
... Das SU8600 ist das Nachfolgemodell der bewährten Regulus-Feldemissions-SEM-Familie und erfüllt höchste Anforderungen für abbildungsorientierte Anwendungen. Der Kaltfeldstrahler mit seiner nahezu monochromatischen Emission in Kombination mit einer magnetischen ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... Das hoch-automatisierte Elektronenmikroskop CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) steht für noch schnellere, noch einfachere und noch höher auflösende Kryo-Elektronenmikroskopie. Die automatisierte Einzelpartikelanalyse (engl. “Single Particle ...
Jeol
Vergrößerung: 50 unit
Gewicht: 45 kg
Nikons ECLIPSE L300ND, L300N und L200ND, L200NA sind Halbleitermikroskope, die sich ideal für die Inspektion von integrierten Schaltkreisen (IC), Flachbildschirmen (FPD), elektronischen Bauteilen mit hoher Integrationsdichte (LSI) und vielen weiteren ...
Vergrößerung: 20 unit - 220 unit
Gewicht: 125 g
Länge: 10,5 cm
... Das Dino-Lite AM5218MZT Edge kann über eine DVI/HDMI-Schnittstelle direkt an einen HDTV oder LCD-Monitor angeschlossen werden. Durch die scharfe 720p HD Auflösung sind kleinste Details erkennbar. Das AM5218MZT Edge ist für diejenigen Anwender die richtige ...
... DIGITALES MIKROSKOP FÜR AUTOMATISCHE BRINELLMESSUNGEN ISO 6506 - ASTM E10 Elektronisches Mikroskop für die automatische Messung von Brinell-Eindrücken mit einer Kugel von Ø 2,5 oder 5 oder 10 mm -benutzerfreundlich und kompakt -Auto-Lichteinstellung -Genauigkeit ...
Räumliche Auflösung: 20 nm
... Oberflächensensitive Mikroskopie 20 nm Laterale Auflösung Lokale Spektroskopie k-Space-Bildgebung Einfach zu bedienen Kompatibel mit MULTIPROBE UHV-Systemen Ein FOCUS-Produkt Die Photoemissions-Elektronenmikroskopie (PEEM) ist eine extrem leistungsfähige ...
Vergrößerung: 1.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 3 nm
Vergrößerung: 300.000 unit
Räumliche Auflösung: 4, 7, 3 nm
Gewicht: 480 kg
CIQTEK SEM3200 ist ein Hochleistungs-Wolframfilament-Rasterelektronenmikroskop. Es verfügt sowohl im Hoch- als auch im Niedrigvakuummodus über eine hervorragende Bildqualität. Es verfügt außerdem über eine große Tiefenschärfe und eine benutzerfreundliche ...
CIQTEK Co., Ltd.
Erreichen Sie das ganze Jahr über neue Kunden an einem einzigen Ort
Aussteller werdendie besten Anbieter für Sie aus