Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop Phenom Pharos G2

für Lehrzweckefür Qualitätskontrollefür Materialforschung

Tisch-Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissionskanone für hochwertige Aufnahmen in verschiedenen Disziplinen. Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissionskanone Das Thermo Scientific Phenom Pharos G2 FEG-SEM bringt das Feldemissions-SEM auf Ihren Tisch. Das Phenom Pharos G2 FEG-SEM übertrifft viele stationäre SEMs in Bezug auf die Bildqualität und bietet gleichzeitig eine wesentlich bessere Benutzerfreundlichkeit. Das Phenom Pharos G2 FEG-SEM macht dank seines attraktiven Formfaktors und der kurzen Einarbeitungszeit die FEG-Leistung auch für akademische und industrielle Labore zugänglich, für die ein REM bisher keine realistische Option war. Die blitzschnelle Probenbeladung bedeutet einen schnellen Probenwechsel und damit eine höhere Produktivität. Im Gegensatz zu anderen SEMs, die am Ende ausgebucht sind, führt das Phenom Pharos G2 FEG-SEM Bildgebungs- und Analyseaufgaben so schnell aus, dass es sich gut als Walk-up-Tool eignet. Das neue Phenom Pharos G2 FEG-SEM erweitert seinen Beschleunigungsspannungsbereich auf bis zu 1 kV, um isolierende und strahlungsempfindliche Proben besser untersuchen zu können, und auf bis zu 20 kV mit einer Auflösung von 2,0 nm, die auch feinste Details erkennen lässt. Einzigartige Feldemissionsquelle Als einziges Desktop-SEM bietet das Phenom Pharos G2 FEG-SEM eine Feldemissionsquelle, die hohe Helligkeit, scharfe Bilder und einen stabilen Strahlstrom garantiert. Hervorragendes Auflösungsvermögen Das Phenom Pharos G2 FEG-SEM bietet eine Auflösung von 2,0 nm bei 20 kV. Diese Leistung zeigt die Form von Nanopartikeln, Unvollkommenheiten in Beschichtungen oder andere Merkmale, die von Wolfram-SEMs oder anderen Tisch-SEMs übersehen werden würden.