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Röntgenmikroskop Phenom ParticleX TC
Mehrzweckfür AnalyseIndustrie

Röntgenmikroskop - Phenom ParticleX TC - THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE - Mehrzweck / für Analyse / Industrie
Röntgenmikroskop - Phenom ParticleX TC - THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE - Mehrzweck / für Analyse / Industrie
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Eigenschaften

Typ
Röntgen
Anwendungsbereich
für Analyse, Industrie, Mehrzweck
Konfigurierung
Desktop, kompakt
Elektronenquelle
CeB6
Detektortyp
Rückstreuelektronen, Sekundärelektronen
Weitere Eigenschaften
automatisiert, für Topographie
Vergrößerung

Max: 200.000 unit

Min: 160 unit

Räumliche Auflösung

Max: 10 nm

Min: 0 nm

Gewicht

75 kg
(165,3 lb)

Breite

316 mm
(12,4 in)

Höhe

625 mm
(24,6 in)

Beschreibung

Sauberkeit in der Industrie ist leichter gesagt als getan, insbesondere in anspruchsvollen Produktionsumgebungen wie der Automobilindustrie. Im Vergleich zu herkömmlichen Lichtmikroskopen ermöglicht unser Thermo Scientific Phenom ParticleX TC Desktop SEM nicht nur eine detailliertere Analyse der Zusammensetzung auf der Mikroskala, sondern auch die zuverlässige Erkennung und Analyse von durchscheinenden Partikeln, wie z. B. Glas, die von anderen Systemen oft übersehen werden. Was dieses kompakte System jedoch wirklich auszeichnet, ist die integrierte Thermo Scientific Perception Automation Software, die automatisch harte Partikel wie SiO2 oder Korund analysiert und identifiziert, die die Verschleißrate von Produkten wie Getrieben erhöhen können. Anschließend gleicht die Perception Software die Menge und Art der gefundenen Partikel mit den entsprechenden Reinheitsspezifikationen ab. Schließlich liefert das Phenom ParticleX TC Desktop SEM prägnante Industrieberichte, die Rohdaten in klare und unvoreingenommene Antworten für Sie und Ihr Team umwandeln, so dass Sie Qualitätsspezifikationen, einschließlich deutscher VDA-Normen, einhalten können. Dieses System verfügt außerdem über unsere integrierte energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) für eine erweiterte Analyse der Zusammensetzung. Darüber hinaus können Sie einen Sekundärelektronendetektor (SED) hinzufügen, um niederenergetische Elektronen von der obersten Oberflächenschicht der Probe zu sammeln, was ideal ist, um detaillierte Informationen über die Probenoberfläche zu erhalten. Erfüllen Sie industrielle Qualitätsstandards mit Sicherheit Dieses System hilft Ihnen bei der Beantwortung der Frage, die sich immer wieder stellt: Ist mein Produkt sauber genug? Im Vergleich zur optischen Mikroskopie bietet es eine höhere Bildqualität und einen größeren Umfang der Partikelanalyse, so dass Sie sich auf Ihre Ergebnisse verlassen können.

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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.