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Vergrößerung: 160 unit - 200.000 unit
Räumliche Auflösung: 0 nm - 10 nm
Gewicht: 75 kg
... In der schnelllebigen Welt der Batterieherstellung und -analyse ist ein schneller Durchsatz alles. Aber auch eine präzise Partikelanalyse ist wichtig. Das Thermo Scientific Phenom ParticleX Battery Desktop SEM bietet Ihnen beides. Es bietet einen bis ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Vergrößerung: 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 10, 3, 2, 200, 400 nm
Gewicht: 75 kg
... Das Thermo Scientific Phenom Pharos G2 Desktop FEG-SEM wurde entwickelt, um Sie bei der Analyse kleiner Partikel mit hoher Auflösung zu unterstützen - und das in rasanter Geschwindigkeit. Ebenso wichtig für vielbeschäftigte Laborleiter ist jedoch, dass ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Räumliche Auflösung: 0,7, 1, 0,6 nm
... Charakterisierung von Nanomaterialien mit Sub-Nanometer-Auflösung und hohem Materialkontrast. Verios 5 XHR Raster- Elektronenmikroskop Das Verios 5 XHR SEM bietet eine Subnanometerauflösung über den gesamten Energiebereich von 1 keV ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Räumliche Auflösung: 0,7, 0,8, 1 nm
Breite: 340 mm
... Die serielle Block-Face-SEM (SBF-SEM) ist eine äußerst wertvolle 3D-Analysetechnik, die das Schneiden und Abbilden von in Kunststoff eingebettetem Gewebe in situ zur volumetrischen Analyse und Rekonstruktion großer Probenmengen kombiniert. Das Thermo ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Räumliche Auflösung: 0,3 nm - 1,5 nm
Gewicht: 500 g
... Probenvorbereitung für TEM- und STEM-Bildgebung oder Atomsondentomographie. Einfache Bedienung mit fortschrittlicher Automatisierung. Geeignet für hochwertige 3D-Charakterisierung des Untergrunds. FIB-Probenvorbereitung Das neue Thermo Scientific Helios ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Räumliche Auflösung: 1,2, 0,6, 1, 0,7 nm
... Plasma-fokussiertes Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskop für die TEM-Probenpräparation, einschließlich 3D-Charakterisierung, Querschnitt und Mikrobearbeitung. Das Thermo Scientific Helios 5 Plasma FIB (PFIB) DualBeam (fokussiertes Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskop ...
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... Rastertransmissionselektronenmikroskop für die Bildgebung und Spektroskopie von strahlungsempfindlichen Materialien. Spectra Ultra Scanning-Transmissionselektronenmikroskop Um die TEM- und STEM-Bildgebung wirklich zu optimieren, können EDX und EELS ...
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