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Mikroskop für Batterie Phenom ParticleX
Rasterelektronenfür Analysefür Qualitätskontrolle

Mikroskop für Batterie - Phenom ParticleX - THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE - Rasterelektronen / für Analyse / für Qualitätskontrolle
Mikroskop für Batterie - Phenom ParticleX - THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE - Rasterelektronen / für Analyse / für Qualitätskontrolle
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Eigenschaften

Typ
Rasterelektronen
Anwendungsbereich
für Analyse, Industrie, für Qualitätskontrolle, für die Materialanalyse, für Batterie
Konfigurierung
Desktop, kleinformatig
Detektortyp
Rückstreuelektronen, Sekundärelektronen
Weitere Eigenschaften
hochauflösend, automatisiert
Vergrößerung

Max: 200.000 unit

Min: 160 unit

Räumliche Auflösung

Max: 10 nm

Min: 0 nm

Gewicht

75 kg
(165,3 lb)

Breite

316 mm
(12,4 in)

Höhe

625 mm
(24,6 in)

Beschreibung

In der schnelllebigen Welt der Batterieherstellung und -analyse ist ein schneller Durchsatz alles. Aber auch eine präzise Partikelanalyse ist wichtig. Das Thermo Scientific Phenom ParticleX Battery Desktop SEM bietet Ihnen beides. Es bietet einen bis zu 10-mal schnelleren Durchsatz als andere auf dem Markt erhältliche automatische Qualitätskontroll-SEMs und ermöglicht Ihnen die gleichzeitige Analyse von bis zu 49 Proben. Wichtig ist, dass es dies im Mikrobereich tut, um selbst die kleinsten Verunreinigungen zu erkennen und die Sicherheit und Leistungsfähigkeit Ihres Endprodukts zu gewährleisten. Was dieses kompakte System wirklich auszeichnet, ist die integrierte Thermo Scientific Perception Software, die automatisch Zehntausende von Partikeln pro Probe analysiert und die Menge und Art der gefundenen Partikel mit den festgelegten Reinheitsspezifikationen abgleicht. Anschließend liefert sie prägnante Industrieberichte, die die Rohdaten in klare und unvoreingenommene Erkenntnisse für Sie und Ihr Team verwandeln. Schnellerer Durchsatz als andere SEMs Das Thermo Scientific Phenom ParticleX Battery Desktop SEM bietet hervorragende Geschwindigkeit und Präzision. Es liefert einen blitzschnellen Durchsatz, der bis zu 10-mal schneller ist als bei herkömmlichen Rasterelektronenmikroskopen, so dass Sie Ihre Analysen in kürzerer Zeit durchführen können. Die in das System integrierten Automatisierungsfunktionen verbessern die Benutzerfreundlichkeit noch weiter, so dass die Zeit, die Sie am Mikroskop verbringen, erheblich reduziert und die Gesamtproduktivität gesteigert wird. Ganz gleich, ob Sie Routineinspektionen oder detaillierte Untersuchungen durchführen, das Phenom ParticleX Battery Desktop SEM hilft Ihnen, Ihre Ziele schnell und effizient zu erreichen.

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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.