SEM-Mikroskop Phenom ParticleX AM

für AnalyseMessfür Qualitätskontrolle

Desktop-SEM für die Analyse der additiven Fertigung, das große Proben von bis zu 100 mm x 100 mm untersuchen kann. Analyse der additiven Fertigung Das Thermo Scientific Phenom ParticleX Desktop-Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein Mehrzweck-Desktop-SEM, das für die additive Fertigung entwickelt wurde und Reinheit auf der Mikroskala liefert. Es ist mit einer Kammer ausgestattet, die groß genug ist, um Proben von bis zu 100 mm x 100 mm zu analysieren. Der firmeneigene Entlüftungs- und Beladungsmechanismus sorgt für den weltweit schnellsten Entlüftungs-/Beladungszyklus und damit für den höchsten Durchsatz. Mit dem Phenom ParticleX AM Desktop SEM können Sie die Kontrolle über Ihre Daten selbst übernehmen: -Überwachung kritischer Eigenschaften von Metallpulvern -Verbessern Sie Ihre pulverbett- und pulvergespeisten additiven Fertigungsprozesse -Identifizieren Sie Partikelgrößenverteilungen, die Morphologie einzelner Partikel und Fremdpartikel Merkmale von Phenom ParticleX AM Desktop SEM SEM-Partikelanalyse Das Phenom ParticleX AM Desktop SEM verfügt über eine Kammer mit einem präzisen und schnellen motorisierten Tisch, der die Analyse von Proben von bis zu 100 mm x 100 mm ermöglicht. Selbst bei dieser größeren Probengröße hält das firmeneigene Beladungs-Shuttle den Belüftungs-/Beladungszyklus auf eine branchenweit führende Beladungszeit von 60 Sekunden oder weniger, was letztendlich einen schnelleren Durchsatz als bei anderen REM-Systemen ermöglicht. Prüfung der additiven Fertigung Das Phenom ParticleX AM Desktop SEM misst verschiedene Größen- und Formparameter, wie z. B. minimaler und maximaler Durchmesser, Umfang, Seitenverhältnis, Rauheit und Feret-Durchmesser. Alle diese Parameter können mit 10%-, 50%- oder 90%-Werten angezeigt werden (d.h. d10, d50, d90).