1. Metrologie - Labor
  2. Laborbedarf
  3. Rasterelektronenmikroskop
  4. THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE

SEM-Mikroskop Phenom ParticleX AM
für AnalyseMessfür Qualitätskontrolle

SEM-Mikroskop - Phenom ParticleX AM - THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE - für Analyse / Mess / für Qualitätskontrolle
SEM-Mikroskop - Phenom ParticleX AM - THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE - für Analyse / Mess / für Qualitätskontrolle
Zu meinen Favoriten hinzufügen
Zum Produktvergleich hinzufügen

Eigenschaften

Typ
SEM
Anwendungsbereich
für Analyse, Mess, für Qualitätskontrolle, für Materialforschung
Konfigurierung
Desktop
Elektronenquelle
CeB6
Detektortyp
Sekundärelektronen
Weitere Eigenschaften
motorisiert
Vergrößerung

Max: 200.000 unit

Min: 160 unit

Räumliche Auflösung

Max: 16 nm

Min: 0 nm

10 nm

Beschreibung

Wenn Sie die Qualität und Präzision Ihrer additiven Pulvertests verbessern wollen - mit detaillierteren Analysen und präzisen Größenmessungen - kann das Thermo Scientific Phenom ParticleX AM Desktop SEM Ihnen dabei helfen. Sowohl für Pulverbett- als auch für pulvergespeiste additive Fertigungsverfahren (AM) können Sie damit die kritischen Eigenschaften von Metallpulvern auf der Mikroskala analysieren. Außerdem können Sie mit bis zu 49 Proben gleichzeitig arbeiten. Was dieses System jedoch wirklich auszeichnet, ist die integrierte Thermo Scientific Perception Software, die automatisch Trümmer, kugelförmige oder längliche Partikel und andere Teilchen findet und identifiziert und so die Qualität des Pulvers nachweist. Anschließend liefert sie präzise Industrieberichte, die die Rohdaten in klare und unvoreingenommene Antworten für Sie und Ihr Team verwandeln. Das Phenom ParticleX AM Desktop SEM verfügt über eine integrierte energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) für eine erweiterte Analyse der Zusammensetzung. Darüber hinaus können Sie einen Sekundärelektronendetektor (SED) hinzufügen, der niederenergetische Elektronen von der obersten Oberflächenschicht der Probe sammelt und so detaillierte Oberflächeninformationen liefert. übersicht Erfüllen Sie industrielle Qualitätsstandards mit Sicherheit Mit dem Phenom ParticleX AM Desktop SEM können Sie die Zusammensetzung und Größe von Partikeln sowie Formparameter (Durchmesser, Umfang, Seitenverhältnis, Rauheit und Feret-Durchmesser) analysieren - alles im Mikrobereich und mit weitaus größerer Präzision als bei anderen Technologien. Branchenführender Durchsatz Das Phenom ParticleX AM Desktop SEM bietet einen hohen Durchsatz, so dass Sie mehr mit dem Mikroskop machen und die Produktionszykluszeit erhöhen können.

---

VIDEO

* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.