Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop SEM5000Pro

Laborfür QualitätskontrolleIndustrie

CIQTEK FESEM-Mikroskop SEM5000Pro Spezifikationen -Elektronenoptik Auflösung：0,8 nm bei 15 kV, SE/1,2 nm bei 1,0 kV, SE Beschleunigungsspannung：0,02 kV ~ 30 kV Vergrößerung (Polaroid)：1 ~ 2.500.000 x Elektronenkanonen-Typ：Schottky-Feldemissions-Elektronenkanone -Probenkammer Kamera：Doppelkameras (optische Navigation + Kammermonitor) Tischbereich：X: 110 mm, Y: 110 mm, Z: 50 mm/T: -10°～ +70°, R: 360° -SEM-Detektoren und Verlängerungen Standard：Inlens-Elektronendetektor/Everhart-Thornley-Detektor (ETD) Optional：Rückziehbarer Detektor für rückgestreute Elektronen (BSED) Einziehbares Rastertransmissionselektronenmikroskop (STEM) Niedervakuum-Detektor（LVD） Energiedispersive Spektroskopie (EDS / EDX) Elektronenrückstreuungsbeugungsmuster (EBSD) Probenwechselschleuse （4 Zoll /8 Zoll) Trackball & Knopf Bedienfeld -Software Sprache：Englisch Betriebssystem：Windows Navigation：Optische Navigation, Gesten-Schnellnavigation, Trackball (optional) Automatische Funktionen：Automatische Helligkeit & Kontrast, Auto-Fokus, Auto-Stigmator Das CIQTEK SEM5000Pro ist ein Schottky-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM), das auf hohe Auflösung auch bei niedriger Anregungsspannung spezialisiert ist. Die fortschrittliche "Super-Tunnel"-Elektronenoptiktechnologie ermöglicht einen kreuzungsfreien Strahlengang in Verbindung mit einem elektrostatisch-elektromagnetischen Verbundlinsendesign. Diese Weiterentwicklungen reduzieren den räumlichen Aufladungseffekt, minimieren Linsenaberrationen, verbessern die Bildauflösung bei niedriger Spannung und erreichen eine Auflösung von 1,2 nm bei 1 kV.