Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop SU3800SE
Mehrzweckzur Stahlkontrollezur Materialuntersuchuing

Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop - SU3800SE - Hitachi High-Tech Europe GmbH - Mehrzweck / zur Stahlkontrolle / zur Materialuntersuchuing
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop - SU3800SE - Hitachi High-Tech Europe GmbH - Mehrzweck / zur Stahlkontrolle / zur Materialuntersuchuing
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Eigenschaften

Anwendungsbereich
zur Materialuntersuchuing, zur Stahlkontrolle, Industrie, Mehrzweck
Konfigurierung
bodenstehend
Elektronenquelle
Schottky-Feldemission
Weitere Eigenschaften
hochauflösend, zur Beobachtung
Vergrößerung

Max: 600.000 unit

Min: 5 unit

Räumliche Auflösung

0,9 nm, 1,6 nm, 2,5 nm

Beschreibung

Die Hitachi SU3800SE und SU3900SE SEMs bieten vielseitige Bildgebungs- und Analyselösungen für verschiedene Anwendungen. Diese Geräte bieten hochauflösende Bildgebung, intuitive Navigation und fortschrittliche Automatisierung und liefern zuverlässige, konsistente Ergebnisse in Forschungs- und Industrieumgebungen. Ihre Flexibilität unterstützt effiziente Arbeitsabläufe sowohl für Standard- als auch für große industrielle Proben und erhöht die Produktivität und Reproduzierbarkeit. Hauptmerkmale: Flexible Probenhandhabung - SU3900SE: Für große Proben mit einem Durchmesser von bis zu 300 mm, einer Höhe von 130 mm und einem Gewicht von bis zu 5 kg. Der hochbelastbare, exzentrische 5-Achsen-Tisch ermöglicht die Abbildung industrieller Materialien, wie z. B. Automobilteile, ohne Größenänderung, was Zeit und Mühe spart. Für automatisierte Inspektionen können mehrere Proben aufgenommen werden. - SU3800SE: Für kleinere Proben mit einem Durchmesser von bis zu 200 mm, einer Höhe von 80 mm und einem Gewicht von bis zu 2 kg, geeignet für ein breites Anwendungsspektrum. Mühelose Navigation und präzise Steuerung

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Messen

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EuroBLECH 2026
EuroBLECH 2026

20-23 Okt. 2026 Hanovre (Deutschland) Halle 11 - Stand J176

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