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STEM-Mikroskop Helios Hydra
für Qualitätskontrollefür Materialforschung3D

STEM-Mikroskop - Helios Hydra - THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE - für Qualitätskontrolle / für Materialforschung / 3D
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Eigenschaften

Typ
STEM
Anwendungsbereich
für Qualitätskontrolle, für Materialforschung
Beobachtungstechnik
3D
Ionenquelle
Xenon, Plasma, Argon
Weitere Eigenschaften
hochauflösend, zur Beobachtung
Räumliche Auflösung

1 µm, 2 µm, 4 µm, 5 µm, 20 µm

Beschreibung

Die Thermo Scientific Helios Hydra PFIB-SEMs sind vielseitige Multiapplikationsgeräte mit vier verschiedenen Ionensorten (Argon, Stickstoff, Sauerstoff und Xenon), so dass Sie die Ionen auswählen können, die die besten Ergebnisse liefern. Großartige Ergebnisse beginnen mit einer umfassenden Probenvorbereitung, unabhängig davon, ob Sie eine S/TEM-Lamellenaufnahme, eine 3D-Charakterisierung oder eine großflächige physikalische Fehleranalyse durchführen. Das Helios 5+ Hydra ist jetzt mit erweiterten, gezielten Anwendungsmöglichkeiten ausgestattet. Erfahren Sie mehr darüber, was dieses innovative System für Ihre Herausforderungen in der Schadensanalyse und Materialcharakterisierung leisten kann. Geräteeigenschaften des Helios Hydra PFIB-SEM Mehrere Plasma-FIB-Ionenarten Sie können in weniger als zehn Minuten zwischen Argon, Stickstoff, Sauerstoff und Xenon wechseln, ohne die Leistung zu beeinträchtigen. Diese bemerkenswerte Flexibilität erweitert den potenziellen Anwendungsbereich der PFIB erheblich und ermöglicht die Erforschung von Wechselwirkungen zwischen Ionen und Proben zur Optimierung bestehender Anwendungsfälle. Ultra-hochauflösende SEM-Analyse Kombiniert die innovative Multi-Ionen-Spezies Plasma-FIB-Säule mit der monochromen Thermo Scientific Elstar UC+ SEM-Säule, um fortschrittliche fokussierte Ionen- und Elektronenstrahl-Leistung zu bieten. Präzise FIB-Frässteuerung Ermöglicht die präzise Steuerung Ihrer Fräsprozesse und Experimente mit optimierten Strahlprofilen, selbst bei maximalen Strömen, mit zeitsparender, intuitiver Software für manuelle und geführte Workflow-Anwendungen. FIB-Fräsen mit extremem Plasma Signifikante Verbesserungen für großvolumige Anwendungen lassen sich leicht mit automatisierten Ausrichtungen für alle PFIB-Aperturen erreichen, so dass 50 % höhere Maximalströme bis zu 6 µA immer zugänglich und optimiert sind.

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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.