Vielseitiges FIB-SEM für hohe Durchsatzleistung mit fortschrittlicher Automatisierung
Das Thermo Scientific Scios 3 FIB-SEM ist ein modernes, ultrahochauflösendes, analytisch fokussiertes Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskop (FIB-SEM). Es zeichnet sich durch eine außergewöhnliche Probenpräparation und 3D-Charakterisierung für ein breites Spektrum von Proben aus, einschließlich magnetischer und nichtleitender Materialien. Das Scios 3 FIB-SEM wurde mit innovativen Funktionen zur Verbesserung des Durchsatzes, der Zuverlässigkeit und der Benutzerfreundlichkeit entwickelt und ist eine ideale Lösung für Wissenschaftler und Ingenieure, die fortschrittliche Forschung und Analysen in unterschiedlichen Umgebungen durchführen.
Kombiniert mit der vollständigen Suite automatisierter Softwareanwendungen ist das Scios 3 FIB-SEM auf die meisten gängigen Anwendungsfälle zugeschnitten. Diese benutzerfreundliche und innovative Lösung steigert die Produktivität erheblich und ist daher für Anwender in der Industrie und im akademischen Bereich gleichermaßen wertvoll.
merkmale
Automatisierte Querschnittsanalyse
Das Scios 3 FIB-SEM bietet eine automatisierte Anwendung für die Querschnittsanalyse, die eine qualitativ hochwertige Charakterisierung des Untergrunds mit präziser Zielgenauigkeit ermöglicht. Es rationalisiert Arbeitsabläufe, reduziert Benutzereingriffe und gewährleistet konsistente, hochwertige Ergebnisse in Umgebungen mit hohem Durchsatz.
Analytische 3D-Charakterisierung im Hochdurchsatzverfahren
Die Thermo Scientific Auto Slice & View 5 Software für das Scios 3 FIB-SEM bietet automatisierte Serienschnitte für die 3D-Analyse mit hohem Durchsatz. Die nahtlose Integration ermöglicht eine multimodale Datenerfassung, einschließlich REM-Bildgebung, Zusammensetzung, mikrostrukturelle und kristallografische Informationen.
Automatisierte, hochwertige, ortsspezifische (S)TEM-Probenvorbereitung
Das Scios 3 FIB-SEM ermöglicht die schnelle und einfache Vorbereitung hochwertiger, ortsspezifischer (S)TEM-Proben.
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