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FIB/SEM-Mikroskop Scios 3
für Analysefür Qualitätskontrollefür Forschungszwecke

FIB/SEM-Mikroskop - Scios 3  - THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE - für Analyse / für Qualitätskontrolle / für Forschungszwecke
FIB/SEM-Mikroskop - Scios 3  - THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE - für Analyse / für Qualitätskontrolle / für Forschungszwecke
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Eigenschaften

Typ
FIB/SEM
Anwendungsbereich
für Analyse, für Forschungszwecke, Messtechnik, Industrie, für Qualitätskontrolle, für Materialforschung, für Halbleiter
Beobachtungstechnik
3D
Detektortyp
Sekundärelektronen, EBSD
Weitere Eigenschaften
hochauflösend, automatisiert, mit Gelenkarm, ultrahochauflösend
Räumliche Auflösung

0,7 nm, 1,2 nm, 1,4 nm

Gewicht

5 kg
(11 lb)

Beschreibung

Vielseitiges FIB-SEM für hohe Durchsatzleistung mit fortschrittlicher Automatisierung Das Thermo Scientific Scios 3 FIB-SEM ist ein modernes, ultrahochauflösendes, analytisch fokussiertes Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskop (FIB-SEM). Es zeichnet sich durch eine außergewöhnliche Probenpräparation und 3D-Charakterisierung für ein breites Spektrum von Proben aus, einschließlich magnetischer und nichtleitender Materialien. Das Scios 3 FIB-SEM wurde mit innovativen Funktionen zur Verbesserung des Durchsatzes, der Zuverlässigkeit und der Benutzerfreundlichkeit entwickelt und ist eine ideale Lösung für Wissenschaftler und Ingenieure, die fortschrittliche Forschung und Analysen in unterschiedlichen Umgebungen durchführen. Kombiniert mit der vollständigen Suite automatisierter Softwareanwendungen ist das Scios 3 FIB-SEM auf die meisten gängigen Anwendungsfälle zugeschnitten. Diese benutzerfreundliche und innovative Lösung steigert die Produktivität erheblich und ist daher für Anwender in der Industrie und im akademischen Bereich gleichermaßen wertvoll. merkmale Automatisierte Querschnittsanalyse Das Scios 3 FIB-SEM bietet eine automatisierte Anwendung für die Querschnittsanalyse, die eine qualitativ hochwertige Charakterisierung des Untergrunds mit präziser Zielgenauigkeit ermöglicht. Es rationalisiert Arbeitsabläufe, reduziert Benutzereingriffe und gewährleistet konsistente, hochwertige Ergebnisse in Umgebungen mit hohem Durchsatz. Analytische 3D-Charakterisierung im Hochdurchsatzverfahren Die Thermo Scientific Auto Slice & View 5 Software für das Scios 3 FIB-SEM bietet automatisierte Serienschnitte für die 3D-Analyse mit hohem Durchsatz. Die nahtlose Integration ermöglicht eine multimodale Datenerfassung, einschließlich REM-Bildgebung, Zusammensetzung, mikrostrukturelle und kristallografische Informationen. Automatisierte, hochwertige, ortsspezifische (S)TEM-Probenvorbereitung Das Scios 3 FIB-SEM ermöglicht die schnelle und einfache Vorbereitung hochwertiger, ortsspezifischer (S)TEM-Proben.

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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.