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Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... Das SU9000 II ist eine Kombination aus oberflächenabbildendem SEM und strukturauflösendem Rastertransmissionsmikroskop (STEM), die für eine extreme Auflösung optimiert ist. Ermöglicht wird dies durch die einzigartige Elektronenoptik des SU9000 II, die ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 0,8 nm
... Das SU7000 ist ideal für große oder schwere Proben und für die Integration einer breiten Palette von Zubehör. Zu diesem Zubehör gehören analytische Detektoren oder Tischaufsätze für die In-situ-Probenmanipulation (Dehnung [Zug] / Kompression, Erwärmung/Kühlung, ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 5 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 15, 4, 3 nm
... Bei der SU3800/3900 VP-SEM-Familie liegt der Schwerpunkt auf der Produktivität. Diese Werkzeuge automatisieren sich wiederholende Aufgaben, sodass Sie in kurzer Zeit und mit geringem manuellem Aufwand reproduzierbare Ergebnisse erzielen können. Es stehen ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 6 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 4, 15 nm
... FlexSEM II ist ein Tisch-/Kompakt-SEM für Bildgebungsaufgaben, die über die Leistung herkömmlicher Tisch-SEMs hinausgehen. Es ist das ideale System für alle, die nicht in ein klassisches SEM investieren, aber auch keine Kompromisse bei der Abbildungsleistung ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 10 unit - 250.000 unit
... Das TM4000 III wurde als logische Erweiterung der optischen Stereomikroskopie entwickelt und ist ein Einstiegsgerät für die Rasterelektronenmikroskopie. Es ermöglicht Ihnen, Proben in kürzester Zeit mit guter Auflösung, Tiefenschärfe und Kontrast zwischen ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 20 unit - 8.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,08, 0,1 nm
... Das HF5000 ist ein Cs-korrigiertes S/TEM, das für In-situ-Experimente angepasst werden kann. Die Besonderheit ist der Everhart Thornley SE-Detektor, der die Oberfläche der Probe bei 60-200kV abbildet, genau wie bei einem SEM. Dies ist besonders vorteilhaft ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Gewicht: 9,5 kg
Länge: 657 mm
Breite: 251 mm
... Die ECLIPSE LV100NDA und LV100ND Serie flexibler, modularer, aufrechter Mikroskope von Nikon ist für episkopische und diaskopische optische Kontrastverfahren konzipiert. Die Geräte können mit digitalem Kamerazubehör geliefert werden und ...
... und POL für die Mehrfachanalyse ausgestattet. Inverses Mikroskop der Einstiegsklasse für allgemeine Anwendungen zur Härteprüfung. Inverses Mikroskop für Industrie und Materialwissenschaft, speziell entwickelt für undurchsichtige ...
... der Art der Einrichtung. Das DriveAFM kann sowohl als eigenständiges System als auch integriert in ein inverses optisches Mikroskop eingesetzt werden. Eine breite Palette von Bildgebungsmodi, die Möglichkeit, kleine Ausleger zu verwenden, ...
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