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Optisches Mikroskop Eclipse LV100NDzur Untersuchung der nicht-metallischen EinschlüsseInspektionzur online-Wafer-Kontrolle
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Eigenschaften
- Typ
- optisch
- Anwendungsbereich
- zur Untersuchung der nicht-metallischen Einschlüsse, Inspektion, zur online-Wafer-Kontrolle, Labor, Mess, medizinisch, für Materialforschung, Tiefenmess, für Dünnschichtmessungen, für berührungslose 3-Achsen Mess, Industrie, metallurgisches, für Qualitätskontrolle, Mehrzweck
- Ergonomie
- aufrecht
- Mikroskopkopf
- trinokulares, binokular
- Beobachtungstechnik
- Hellfeld, Fluoreszenz, polarisiert, Phasenkontrast, Dunkelfeld, Infrarot, mit differentiellem Interferenzkontrast
- Konfigurierung
- Tisch
- Lichtquelle
- LED-Beleuchtung, koaxialer Beleuchtung
- Weitere Eigenschaften
- zur Bilderfassung, Digitalkamera, für Topographie, für Wafer, USB, hochauflösend, automatisiert, Hochpräzision, zur Glasfaserinspektion, für die Nanotechnik, großer Arbeitsabstand, ergonomisch, modulares, SAM für Wafer, zur Mikroskop- und Profilometer Integrierung, für flaches Muster, 3-Achsen, leicht zu befüllen, Gleittisch, mit hohem Kontrast, mit starker Vergrößerung, mit Lichtstärkekontrolle, Echtzeit, für polierte Proben, Bildverarbeitung, für Halbleiter, motorisiert, hochauflösend, mit veränderlicher Temperatur, Niedrigtemperatur, mit Spezialbeleuchtung, für die Asbesterkennung, mit interferometrischem Metrologie System unter Weißlicht, kostengünstig
- Gewicht
9,5 kg
(20,9 lb)- Länge
657 mm
(25,9 in)- Breite
251 mm
(9,9 in)- Höhe
506 mm
(19,9 in)
Beschreibung
Die ECLIPSE LV100NDA und LV100ND Serie flexibler, modularer, aufrechter Mikroskope von Nikon ist für episkopische und diaskopische optische Kontrastverfahren konzipiert. Die Geräte können mit digitalem Kamerazubehör geliefert werden und sind ideal für die Materialprüfung in vielen industriellen Anwendungen.
Modulare, motorisierte und manuelle aufrechte Mikroskope
Die hervorragenden Optiken der Nikon CFI60-2 Serie liefern exzellente Bilder für beide Okulare und für die digitalen Nikon-Kameras mit Analyse-Software. Das universelle Mikroskopdesign ermöglicht dank eines modularen Komponentenprogramms komplementäre optische Kontrastverfahren zusammen auf einem Mikroskopstativ
Nikon ECLIPSE LV100NDA und LV100ND
Diese Mikroskope mit episkopischer und diaskopischer Beleuchtung sind für die Inspektion von industriellen Materialien und Komponenten sowie für Anwendungen in Forschung und Entwicklung bestimmt.
Nikon CFI60-2 Objektiv-Serie
Nikons innovatives Design ermöglicht klare Abbildungsverfahren, einschließlich Hellfeld, Dunkelfeld, Polarisation (POL), differentiellem Interferenzkontrast (DIC) und Zweistrahlinterferometrie mit hohem Kontrast.
Nikon Digital Sight Kameras
Alle Nikon Digital Sight Kameras nehmen effizient Bilder einer Probe auf und liefern sie an die Bildverarbeitungssoftware der NIS-Elements Suite, zusammen mit Mikroskopdaten über das verwendete Objektiv, die Vergrößerungseinstellung und die
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Optische manuelle Messung
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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.