- Metrologie - Labor
- Laborbedarf
- Rasterelektronenmikroskop
- Hitachi High-Tech Europe GmbH
Rasterelektronenmikroskop TM4000PlusIIIMessfür AnalyseTopographie
Zu meinen Favoriten hinzufügen
Zum Produktvergleich hinzufügen
Eigenschaften
- Typ
- Rasterelektronen
- Anwendungsbereich
- für Analyse, Mess
- Beobachtungstechnik
- Atomzahlkontrast, Topographie
- Konfigurierung
- Tisch, kompakt
- Detektortyp
- Rückstreuelektronen, Sekundärelektronen
- Weitere Eigenschaften
- motorisiert, Digitalkamera, hochauflösend, automatisiert, kostengünstig, mit hohem Kontrast, mit starker Vergrößerung, Bildverarbeitung, leicht zu befüllen, für die Asbesterkennung, für Geowissenschaften, für die Nanotechnik, zur Mikroskop- und Profilometer Integrierung, für polierte Proben, Rasterelektronen mit variablem Druck, mit Profilometriefunktion, für flaches Muster, für Topographie, für zur Messung Luft und Flüssigkeiten
- Vergrößerung
Max: 250.000 unit
Min: 10 unit
- Gewicht
53 kg, 55 kg
(116,8 lb, 121,3 lb)- Länge
614 mm, 617 mm
(24,2 in, 24,3 in)- Breite
330 mm
(13 in)- Höhe
547 mm
(21,5 in)
Beschreibung
Das TM4000 III wurde als logische Erweiterung der optischen Stereomikroskopie entwickelt und ist ein Einstiegsgerät für die Rasterelektronenmikroskopie. Es ermöglicht Ihnen, Proben in kürzester Zeit mit guter Auflösung, Tiefenschärfe und Kontrast zwischen verschiedenen Materialien abzubilden. Und das alles ohne zeitaufwändige Präparation (unbeschichtet). Bei Bedarf können Sie auch die chemische Zusammensetzung und die Elementverteilung bestimmen. Die einfache Navigation auf dem motorisierten X,Y-Probentisch erfolgt über eine automatisch generierte, zoombare Farbfotoübersicht. Diese kann vor Ort durch SEM-Fotoschnappschüsse ergänzt werden.
Produktmerkmale:
- EDX mit 30mm2 oder 60mm2 Sensorgröße voll integrierbar, sofortiges Umschalten zwischen Beobachtung und Elementanalyse
- 4 Beschleunigungsspannungen 5 | 10 | 15 | 20kV mit je 5 Sondenstrommodi
- Optische Farb-Navigationskamera
- 3 Kammerdruckstufen
- 4-Segment-Detektor für rückgestreute Elektronen
- Sondenstrommessung und IFT-Funktionalität
VIDEO
Kataloge
TM4000 Series
2 Seiten
Weitere Produkte von Hitachi High-Tech Europe GmbH
Table Top / Compact SEM
Verwandte Suchbegriffe
- Hitachi Mikroskop
- Hitachi Labormikroskop
- Inspektionsmikroskop
- Desktop-Mikroskop
- Digitalkamera-Mikroskop
- Messmikroskop
- Hitachi Mikroskop für Analyse
- Industrie-Mikroskop
- Hitachi automatisiertes Mikroskop
- Hitachi hochauflösendes Mikroskop
- Hellfeldmikroskop
- Kompaktes Mikroskop
- Mikroskop für Materialforschung
- Metallurgisches Mikroskop
- Mikroskop für Qualitätskontrolle
- Mikroskop für Forschungszwecke
- Schwarzfeld-Mikroskop
- Ergonomisches Mikroskop
- Probenvorbereitungssystem
- 3D-Mikroskop
* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.
Über DirectIndustry
DirectIndustry ist ein Marktplatz, der B2B-Akteuren ein umfassendes Erlebnis bietet, von der Produktbeschaffung bis zum Kauf. DirectIndustry ist eine Einheit der VirtualExpo Group.
Sind Sie Käufer?
Sind Sie Lieferant?