STEM-Mikroskop HF5000
für Materialforschungfür die MaterialanalyseMesstechnik

STEM-Mikroskop
STEM-Mikroskop
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Eigenschaften

Typ
STEM
Anwendungsbereich
Messtechnik, für Materialforschung, für die Materialanalyse
Beobachtungstechnik
BF-STEM, DF-STEM, In-Situ
Konfigurierung
bodenstehend
Elektronenquelle
mit kalter Feldemission
Linsendesign
mit Aberrationskorrektur
Detektortyp
Sekundärelektronen
Weitere Eigenschaften
hochauflösend, automatisiert, für Halbleiter, für die Nanotechnik, mit starker Vergrößerung
Vergrößerung

Min: 20 unit

Max: 8.000.000 unit

Räumliche Auflösung

0,08 nm, 0,1 nm

Beschreibung

Hitachis einzigartiges, aberrationskorrigiertes 200-kV-TEM/STEM: die perfekte Harmonie von Bildauflösung und analytischer Leistung 0.die räumliche Auflösung von 078 nm im STEM wird zusammen mit einer hohen Probenschwenkbarkeit und einem EDX-Detektor mit großem Raumwinkel in einer einzigen Objektivkonfiguration erreicht. Das HF5000 baut auf den Funktionen des dedizierten STEM-Geräts Hitachi HD-2700 auf, einschließlich Hitachis eigenem vollautomatischen Aberrationskorrektor, symmetrischem Dual-SDD-EDX und Cs-korrigiertem SE-Imaging. Es beinhaltet auch die fortschrittlichen TEM/STEM-Technologien, die in der HF-Serie entwickelt wurden. Die Integration dieser Technologien in eine neue 200-kV-TEM/STEM-Plattform führt zu einem Gerät mit einer optimalen Kombination aus Sub-A-Bildgebung und Analyse sowie der Flexibilität und den einzigartigen Fähigkeiten, die für die fortschrittlichsten Studien erforderlich sind. ※Mit integrierten Bildschirmen und Option für einen zweiten Monitor. - Hitachi vollautomatischer Sondenformungs-Korrektor für sphärische Aberration - Hochbrillante und hochstabile kalte FE-Elektronenkanone (Cold FEG) - Ultrastabile Säule und Stromversorgungen für verbesserte Geräteleistung - Gleichzeitige Cs-korrigierte SEM- und STEM-Abbildungsfunktion mit atomarer Auflösung - Neuer hochstabiler Seiteneingangs-Probentisch und Probenhalter - Symmetrisch gegenüberliegende doppelte 100 mm2 EDX*-Detektoren: "Symmetrical Dual SDD*" - Neu konzipiertes Gehäuse für optimale Leistung in realen Laborumgebungen - Eine große Auswahl an fortschrittlichen Hitachi-Probenhaltern* Hochheller Cold FEG×Hochstabiler×Hitachi automatischer Aberrationskorrektor Die neue hochstabile Cold FEG verwendet eine gründlich überarbeitete Version der seit langem etablierten Hitachi-Technologie der kalten Feldemissions-Elektronenquelle.

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Messen

Sie können diesen Hersteller auf den folgenden Messen antreffen

analytica 2024
analytica 2024

9-12 Apr. 2024 München (Deutschland) Halle A2 - Stand 113

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    36th Control 2024
    36th Control 2024

    23-26 Apr. 2024 Stuttgart (Deutschland) Stand 7103

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    * Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.