Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop SU7000
für AnalyseIn-SituBF-STEM

Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
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Eigenschaften

Typ
Feldemissions-Rasterelektronen
Anwendungsbereich
für Analyse
Beobachtungstechnik
BF-STEM, DF-STEM, In-Situ
Konfigurierung
bodenstehend
Elektronenquelle
Schottky-Feldemission
Detektortyp
Sekundärelektronen, Rückstreuelektronen
Weitere Eigenschaften
für die Nanotechnik, für simultane Erfassung, ultrahochauflösend
Vergrößerung

Max: 2.000.000 unit

Min: 20 unit

Räumliche Auflösung

0,8 nm, 0,9 nm

Beschreibung

Ein modernes FE-SEM erfordert nicht nur eine hohe Leistung, sondern auch eine Vielzahl von Funktionen wie großflächige Beobachtung, In-situ-Analyse, variabler Druck, hochauflösende Bildgebung bei niedrigen Beschleunigungsspannungen und gleichzeitige Erfassung mehrerer Signale. Das SU7000 wurde entwickelt, um diese Aspekte und mehr zu erfüllen, indem es erweiterte Informationen für die vielfältigen Anforderungen im Bereich der Elektronenmikroskopie liefert. Erleben Sie die Nanowelt mit dem SU7000! Vielseitige Imaging-Fähigkeit 1. Das SU7000 zeichnet sich durch die schnelle Erfassung mehrerer Signale aus und erfüllt damit umfangreiche Anforderungen an das REM, von der Abbildung eines großen Sichtfeldes bis zur Visualisierung von Sub-Nanometer-Strukturen und allem, was dazwischen liegt. 2. Die Integration neu entwickelter Elektronenoptiken und Detektionssysteme ermöglicht die effiziente gleichzeitige Erfassung mehrerer Sekundärelektronen- und Rückstreuelektronensignale. 2. Mehrkanalige Bildgebung Die Anzahl der am REM montierten Detektoren nimmt ständig zu, ebenso wie die Notwendigkeit, alle gesammelten Informationen effektiv darzustellen. Das SU7000 ist in der Lage, bis zu 6 Signale gleichzeitig zu verarbeiten, darzustellen und zu speichern, um die Informationserfassung zu maximieren. Große Vielfalt an Beobachtungstechniken 4. Die Probenkammer und das Vakuumsystem sind optimiert für: - Große Probengröße - Probenmanipulation in verschiedenen Achsen - Variable Druckbedingungen - Kryogenische Bedingungen - Heizen und Kühlen in-situ Beobachtung

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Messen

Sie können diesen Hersteller auf den folgenden Messen antreffen

analytica 2024
analytica 2024

9-12 Apr. 2024 München (Deutschland) Halle A2 - Stand 113

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    36th Control 2024
    36th Control 2024

    23-26 Apr. 2024 Stuttgart (Deutschland) Stand 7103

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    * Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.