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Räumliche Auflösung: 1 µm
... auszuwählen, die Sie benötigen, um das System an Ihre Anwendung anzupassen. Diese ergonomischen und benutzerfreundlichen Mikroskope tragen dazu bei, den Durchsatz zu erhöhen und den Inspektor bei seiner Arbeit komfortabel zu halten. ...
Vergrößerung: 5 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 2,5, 1,6, 3, 15 nm
... Detektorplattform. Produktmerkmale: - Hocheffiziente Hitachi-Detektoren: -- Sekundärelektronendetektor für Hochvakuum -- 5-Segment- Halbleiter-Rückstreuelektronendetektor für Hoch- und Niedervakuum, auswahl von verschiedenen Signalmodi ...
Das HF5000 ist ein Cs-korrigiertes S/TEM, das für In-situ-Experimente angepasst werden kann. Die Besonderheit ist der Everhart Thornley SE-Detektor, der die Oberfläche der Probe bei 60-200kV abbildet, genau wie bei einem SEM. Dies ist besonders vorteilhaft ...
Vergrößerung: 10 unit - 5.480.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,7 nm - 3 nm
... einheitlichen Arbeitsablauf und einem gemeinsamen Bericht zu vereinen. Mit der patentierten In-Lens Emitter-Technologie erreicht das Mikroskop selbst bei niedrigen Beschleunigungsspannungen eine hohe Auflösung und eignet sich dank des ...
Gewicht: 9,5 kg
Länge: 613 mm
Breite: 251 mm
... Die ECLIPSE LV100NDA und LV100ND Serie flexibler, modularer, aufrechter Mikroskope von Nikon ist für episkopische und diaskopische optische Kontrastverfahren konzipiert. Die Geräte können mit digitalem Kamerazubehör geliefert werden und ...
Nikon Metrology
... Das neue „Machine Vision Microscope“ (MVM) ist ein rein digitales Mikroskop mit allen Eigenschaften, die ein Mikroskop ausmachen. Es verfügt über ein apochromatisch hochkorrigiertes Mikroskopobjektiv sowie einer entsprechenden ...
... und POL für die Mehrfachanalyse ausgestattet. Inverses Mikroskop der Einstiegsklasse für allgemeine Anwendungen zur Härteprüfung. Inverses Mikroskop für Industrie und Materialwissenschaft, speziell entwickelt für undurchsichtige ...
Vergrößerung: 66 unit - 1.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 1,3 nm
Länge: 1.716 mm
... Hochgeschwindigkeits-Rasterelektronenmikroskop für die maßstabsübergreifende Abbildung großvolumiger Proben Das CIQTEK HEM6000 verfügt über Technologien wie die lichtstarke Großstrahl-Elektronenkanone, das Hochgeschwindigkeits-Elektronenstrahl-Ablenksystem, ...
Das SAM 400 ist ein Ultraschall-Rastermikroskop, das für Qualitäts- und Prozesskontrolle, sowie Forschungs-anwendungen entwickelt wurde. Es weist eine neue wartungsfreie Hochgeschwindigkeits-Plattform und neue Hochfrequenz- und Transducer-Technologien ...
PVA TePla Analytical Systems GmbH
... ZTX-S Serie Zoom- Mikroskop nimmt optische Bildgebung System, mit hoher Auflösung, feine Definition und starken Sinn für dreidimensionale, einfache Bedienung.Das Mikroskop ist weit verbreitet in der Halbleiter-und ...
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