Mikroskop für Analyse SAM 400

für Forschungszweckemit hoher DrehzahlSAM für Wafer

Das SAM 400 ist ein Ultraschall-Rastermikroskop, das für Qualitäts- und Prozesskontrolle, sowie Forschungs-anwendungen entwickelt wurde. Es weist eine neue wartungsfreie Hochgeschwindigkeits-Plattform und neue Hochfrequenz- und Transducer-Technologien bis zu 400 MHz auf, die durch eine benutzerfreundliche Oberfläche gesteuert werden. Aufgebaut auf einer Kernplattform nach Halbleiterindustriestandard, unter Nutzung der neuesten Produktions- und Forschungstechnologien, kann das SAM 400 Proben bis zu 420 mm x 420 x 45 (B/L/H) bearbeiten. Die Ultraschallfrequenzspanne reicht bis zu 500 MHz mit einer Auswahl von Analysefrequenzen von 10 MHz bis 400 MHz. Verschiedene Probenwannen und Probenhalter sind kundenspezifisch erhältlich.