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Gewicht: 17 kg
Länge: 490 mm
Breite: 251 mm
... unter Verwendung einer ganzen Reihe von speziellem Zubehör. Ci-POL ermöglicht eine Reihe von Studien mit einem kompakten Mikroskop. Nikon ECLIPSE LV100N POL und Ci-POL Diese Geräte haben eine episkopische und diaskopische ...
Nikon Metrology
Gewicht: 9,5 kg
Länge: 362 mm
Breite: 251 mm
Die ECLIPSE LV100NDA und LV100ND Serie flexibler, modularer, aufrechter Mikroskope von Nikon ist für episkopische und diaskopische optische Kontrastverfahren konzipiert. Die Geräte können mit digitalem Kamerazubehör geliefert ...
Nikon Metrology
... Mechanische Parameter: XYZ-Auflösung: 1 μm Arbeitsbereich: 400x400x200 mm Verfahrgeschwindigkeit: 500 mm/s Abtastgeschwindigkeit: ab 20 mm/s bei 50 MHz Frequenz Satz verstellbarer Schalen mit Probenhaltern ...
Die SAM Line bietet einfach zu bedienende Ultraschall-Rastermikroskope zur Prozesskontrolle und Qualitätssicherung sowie für Forschungsanwendungen. Die einzelnen Modelle basieren auf einer Komponentenplattform nach Industriestandard ...
PVA TePla Analytical Systems GmbH
Die SAM Line bietet einfach zu bedienende Ultraschall-Rastermikroskope zur Prozesskontrolle und Qualitätssicherung sowie für Forschungsanwendungen. Die einzelnen Modelle basieren auf einer Komponentenplattform nach Industriestandard ...
PVA TePla Analytical Systems GmbH
... Bedienung und applikative Flexibilität. Das SAM 300 ist auf einer Komponentenplattform nach Industriestandards aufgebaut, unter Nutzung modernster Produktions- und Forschungstechnologien. Der Scan-Bereich des SAM ...
PVA TePla Analytical Systems GmbH
Das SAM 300 TWIN ist ein, für hohen Durchsatz entwickeltes, Ultraschall-Rastermikroskop für Qualitäts- und Prozesskontrolle, sowie Forschungsanwendungen. Das System besitzt einen neuen Hochgeschwindigkeits-Linearmotor ...
PVA TePla Analytical Systems GmbH
Das SAM 400 ist ein Ultraschall-Rastermikroskop, das für Qualitäts- und Prozesskontrolle, sowie Forschungs-anwendungen entwickelt wurde. Es weist eine neue wartungsfreie Hochgeschwindigkeits-Plattform und neue Hochfrequenz- ...
PVA TePla Analytical Systems GmbH
Das SAM 400 TWIN ist ein für hohen Durchsatz entwickeltes Ultraschall-Rastermikroskop für Qualitäts- und Prozesskontrolle, sowie Forschungsanwendungen. Das System besitzt einen neuen Hochgeschwindigkeits-Linearmotor Scanner ...
PVA TePla Analytical Systems GmbH
Das SAM 400 QUAD ist ein für hohen Durchsatz entwickeltes Ultraschall-Rastermikroskop für Qualitäts- und Prozesskontrolle, sowie Forschungsanwendungen. Das System besitzt einen neuen Hochgeschwindigkeits-Linearmotor Scanner ...
PVA TePla Analytical Systems GmbH
... Wählbarer Frequenzbereich: SAM 1000: 100 MHz - 1000 MHz SAM 2000: 100 MHz - 2000 MHz
PVA TePla Analytical Systems GmbH
SAM 1000 / 2000 inverted sind kombinierte SAM Systeme mit einem inversen Lichtmikroskop für high end Forschungs- und Industrieanwendungen. Ein kombiniertes Ultraschall-Rastermikroskop und ein invertiertes ...
PVA TePla Analytical Systems GmbH
SAM 300 AUTO WAFER ist eine speziell für die “Inline” Produktionskontrolle entwickelte Produktlinie. Es entspricht der Reinraumklasse 10. Es wurde für die Inspektion von Wafern oder gebondeten Wafern ...
PVA TePla Analytical Systems GmbH
Sonix
Sonix
Die Ultraschallmikroskopie bietet die Möglichkeit, zerstörungsfreie Prüfungen an opaken (optisch nicht transparenten) Materialien vorzunehmen und das Probeninnere mit einer Auflösung eines optischen Lichtmikroskops zu inspizieren. In ...
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