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Mikroskope / SAM für Wafer
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Räumliche Auflösung: 350, 500, 1 nm
RAMANtouch denkt Raman-Bildgebung anders. Mit patentierter linienförmiger Laserbelichtung und galvanometerbasiertem Scannen erzielt es die weltweit schnellste hochwertige Raman-Bildgebung – Hunderttausende von Pixeln werden in wenigen Minuten abgebildet, ...
optisches MikroskopEclipse LV100ND
Gewicht: 9,5 kg
Länge: 657 mm
Breite: 251 mm
... Die ECLIPSE LV100NDA und LV100ND Serie flexibler, modularer, aufrechter Mikroskope von Nikon ist für episkopische und diaskopische optische Kontrastverfahren konzipiert. Die Geräte können mit digitalem Kamerazubehör geliefert werden und ...
... Die SAM Line bietet einfach zu bedienende Ultraschall-Rastermikroskope zur Prozesskontrolle und Qualitätssicherung sowie für Forschungsanwendungen. Die einzelnen Modelle basieren auf einer Komponentenplattform nach Industriestandard unter ...
PVA TePla Analytical Systems GmbH
... Die SAM Line bietet einfach zu bedienende Ultraschall-Rastermikroskope zur Prozesskontrolle und Qualitätssicherung sowie für Forschungsanwendungen. Die einzelnen Modelle basieren auf einer Komponentenplattform nach Industriestandard unter ...
PVA TePla Analytical Systems GmbH
... Bedienung und applikative Flexibilität. Das SAM 300 ist auf einer Komponentenplattform nach Industriestandards aufgebaut, unter Nutzung modernster Produktions- und Forschungstechnologien. Der Scan-Bereich des SAM 300 ...
PVA TePla Analytical Systems GmbH
... Das SAM 300 TWIN ist ein, für hohen Durchsatz entwickeltes, Ultraschall-Rastermikroskop für Qualitäts- und Prozesskontrolle, sowie Forschungsanwendungen. Das System besitzt einen neuen Hochgeschwindigkeits-Linearmotor Scanner und neue ...
PVA TePla Analytical Systems GmbH
... Das SAM 400 ist ein Ultraschall-Rastermikroskop, das für Qualitäts- und Prozesskontrolle, sowie Forschungs-anwendungen entwickelt wurde. Es weist eine neue wartungsfreie Hochgeschwindigkeits-Plattform und neue Hochfrequenz- und Transducer-Technologien ...
PVA TePla Analytical Systems GmbH
... Das SAM 400 TWIN ist ein für hohen Durchsatz entwickeltes Ultraschall-Rastermikroskop für Qualitäts- und Prozesskontrolle, sowie Forschungsanwendungen. Das System besitzt einen neuen Hochgeschwindigkeits-Linearmotor Scanner und neue Hochfrequenz- ...
PVA TePla Analytical Systems GmbH
... Das SAM 400 QUAD ist ein für hohen Durchsatz entwickeltes Ultraschall-Rastermikroskop für Qualitäts- und Prozesskontrolle, sowie Forschungsanwendungen. Das System besitzt einen neuen Hochgeschwindigkeits-Linearmotor Scanner und neue Hochfrequenz- ...
PVA TePla Analytical Systems GmbH
... Wählbarer Frequenzbereich: SAM 1000: 100 MHz - 1000 MHz SAM 2000: 100 MHz - 2000 MHz ...
PVA TePla Analytical Systems GmbH
... SAM 1000 / 2000 inverted sind kombinierte SAM Systeme mit einem inversen Lichtmikroskop für high end Forschungs- und Industrieanwendungen. Ein kombiniertes Ultraschall-Rastermikroskop und ein invertiertes Lichtmikroskop, ...
PVA TePla Analytical Systems GmbH
... SAM 300 AUTO WAFER ist eine speziell für die “Inline” Produktionskontrolle entwickelte Produktlinie. Es entspricht der Reinraumklasse 10. Es wurde für die Inspektion von Wafern oder gebondeten Wafern (MEMS) entworfen ...
PVA TePla Analytical Systems GmbH
Sonix
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