- Metrologie - Labor
- Laborbedarf
- Inspektionsmikroskop
- PVA TePla Analytical Systems GmbH
- Produkte
- Kataloge
- News & Trends
- Messen
Mikroskop für Wafer SAM 300 AUTO WAFERInspektionautomatisiertSAM für Wafer
Zu meinen Favoriten hinzufügen
Zum Produktvergleich hinzufügen
Eigenschaften
- Anwendungsbereich
- Inspektion
- Weitere Eigenschaften
- automatisiert, SAM für Wafer, für Wafer
Beschreibung
SAM 300 AUTO WAFER ist eine speziell für die “Inline” Produktionskontrolle entwickelte Produktlinie. Es entspricht der Reinraumklasse 10.
Es wurde für die Inspektion von Wafern oder gebondeten Wafern (MEMS) entworfen um Hohlräume, Einschlüsse oder Delaminationen in gebondeten Schichten zu entdecken.
Verwandte Suchbegriffe
- Mikroskop
- Labormikroskop
- Inspektionsmikroskop
- Mikroskop für Analyse
- Automatisches Mikroskop
- Industrie-Mikroskop
- Inversmikroskop
- Mikroskop für Forschungszwecke
- Mikroskop mit hoher Drehzahl
- Kostengünstiges Mikroskop
- Lokalsonde-Mikroskop
- Mikroskop für Halbleiter
- Mikroskop / SAM für Wafer
- Rastersondenmikroskop
- Mikroskop für Wafer
* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.