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Lokalsonde-Mikroskope
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Räumliche Auflösung: 1 µm
... Physikalische und chemische Bildgebung auf einer einzigen Plattform Vollständig integriertes System basierend auf dem SmartSPM Rastersondenmikroskop und dem vollautomatischen Raman-Mikrospektrometer LabRAM HR Evolution. LabRAM HR Nano bietet Vollautomatisierung ...
Räumliche Auflösung: 0,13, 0,1, 0,26 nm
... Das OS-AA SPM-System ist bekannt für seine Multifunktionalität und Offenheit. Es ist eine Plattform für Experimente, die unkonventionell sind und sich weiterentwickeln als eine reine Detektionsanlage. Es ist nicht nur eine Detektionsanlage. Es beinhaltet ...
Angstrom Advanced
... > 5 Tage ununterbrochene Messzeit bei wechselnden Magnetfeldern mit nur 11 L L LHe Temperaturen bis zu 1 K mit 4He Extrem geringe thermische Drift Magnetische Felder BZ > 3 T Optischer Zugang STM und QPlus® AFM Ergonomisches Design & erweiterbar zu Clustern Das ...
Scienta Omicron
... Das Invizo® 6000 3D-Atomsondenmikroskop stellt einen bedeutenden technologischen Durchbruch dar, der die Grenzen der Atomsondenanalyse verschiebt. Sein ultrabreites Sichtfeld und das einzigartige Zweistrahl-Tief-UV-Laserimpulssystem ermöglichen eine höhere ...
CAMECA
CIQTEK QDAFM Diamond III/IV ist ein Raster-NV-Zentrumsmikroskop, das auf dem Diamant-Stickstoff-Leerstellen-Zentrum (NV-Zentrum) und der AFM-Raster-Magnetbildgebungstechnologie basiert. Die magnetischen Eigenschaften der Probe werden quantitativ und zerstörungsfrei ...
Räumliche Auflösung: 1 nm
... Das Nanosurf LensAFM ist ein Rasterkraftmikroskop, das dort ansetzt, wo Lichtmikroskope und Profilometer an ihre Auflösungsgrenzen stoßen. Es wird wie ein normales Objektiv montiert und erweitert so die Auflösungs- und Messmöglichkeiten dieser Instrumente. ...
Nanosurf
Die SAM Line bietet einfach zu bedienende Ultraschall-Rastermikroskope zur Prozesskontrolle und Qualitätssicherung sowie für Forschungsanwendungen. Die einzelnen Modelle basieren auf einer Komponentenplattform nach Industriestandard unter Nutzung von ...
... Das automatische Rasterkraftmikroskop mit integrierter Intelligenz Mit dem FX40 erhalten Sie die schärfsten, klarsten und hochauflösendsten Bilder - eine Probe nach der anderen bei verschiedenen Anwendungen. Es vereint künstliche Intelligenz mit Robotik ...
Park Systems
Räumliche Auflösung: 0,02 µm
... Produktübersicht
Das Rasterkraftmikroskop (wafer-level AFM) ist ein hochauflösendes Rastersondeninstrument, das zur Charakterisierung der dreidimensionalen Oberflächenmorphologie und multifunktionaler Eigenschaften von Leitern, Halbleitern und ...
Räumliche Auflösung: 0,05, 0,2 nm
... Anwendung AII-in-One-Design, intelligente Struktur und Form. Scankopf und Probentisch sind zusammen entwickelt, starke Antivibrationsleistung. Pràzise Lasererkennung und Sondenausrichtung machen die Lasereinstellung einfach und leicht. Passen Sie den ...
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