Erreichen Sie das ganze Jahr über neue Kunden an einem einzigen Ort
Aussteller werden
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... Dimension Nexus™ bietet eine ideale Kombination aus Datenqualität, Experimentflexibilität und Benutzerfreundlichkeit in einem System mit geringem Platzbedarf. Es beinhaltet die bahnbrechenden Innovationen des Bruker NanoScope® 6 Controllers und der PeakForce ...
... Das XploRA INV, hergestellt von Horiba, ist ein Raman-Mikroskop, das exklusive Automatisierungsfunktionen und geringen Platzbedarf vereint. Es hat spezielle Abtastfähigkeiten eines inversen Mikroskops. Die Einheit kann für verschiedene anspruchsvolle ...
Räumliche Auflösung: 1 nm
... Das DriveAFM ist das ultimative Werkzeug für die Forschung auf der Nanoskala. Mit ihm können Sie eine Vielzahl von Phänomenen in unterschiedlichen Bereichen erforschen. Mit dem DriveAFM können Sie die DNA-Doppelhelix visualisieren, die komplexen Muster ...
Nanosurf
... Das automatische Rasterkraftmikroskop mit integrierter Intelligenz Mit dem FX40 erhalten Sie die schärfsten, klarsten und hochauflösendsten Bilder - eine Probe nach der anderen bei verschiedenen Anwendungen. Es vereint künstliche Intelligenz ...
Park Systems
Räumliche Auflösung: 0,13, 0,1, 0,26 nm
... Das OS-AA SPM-System ist bekannt für seine Multifunktionalität und Offenheit. Es ist eine Plattform für Experimente, die unkonventionell sind und sich weiterentwickeln als eine reine Detektionsanlage. Es ist nicht nur eine Detektionsanlage. Es beinhaltet ...
Räumliche Auflösung: 0,02 µm
... Produktübersicht
Das
Rasterkraftmikroskop (wafer-level AFM) ist ein hochauflösendes Rastersondeninstrument, das zur Charakterisierung der dreidimensionalen Oberflächenmorphologie und multifunktionaler Eigenschaften von Leitern, ...
Räumliche Auflösung: 0,05, 0,2 nm
... Anwendung AII-in-One-Design, intelligente Struktur und Form. Scankopf und Probentisch sind zusammen entwickelt, starke Antivibrationsleistung. Pràzise Lasererkennung und Sondenausrichtung machen die Lasereinstellung einfach und leicht. Passen Sie den ...
Erreichen Sie das ganze Jahr über neue Kunden an einem einzigen Ort
Aussteller werdendie besten Anbieter für Sie aus