Mikroskop / SAM für Wafer AM 300

Rastersondenfür ForschungszweckeIndustrie

Die SAM Line bietet einfach zu bedienende Ultraschall-Rastermikroskope zur Prozesskontrolle und Qualitätssicherung sowie für Forschungsanwendungen. Die einzelnen Modelle basieren auf einer Komponentenplattform nach Industriestandard unter Nutzung von führenden Produktions- und Fertigungstechnologien. Dank ihrer neuen Hochfrequenz- und Transducer-Technologie ermöglichen unsere Ultraschallmikroskope die detaillierte akustische Analyse im Ultraschallfrequenzbereich bis zu 400 MHz. - Analyse von Proben im Ultraschallfrequenzbereich bis zu 400 MHz - besonders geeignet zur kosteneffizienten zerstörungsfreien Untersuchung - für den 24/7 Betrieb geeignet - Scan-Bereich: 1000 µm x 1000 µm - 300 mm x 300 mm - Motorisierte Z-Achse 100 mm - 1 Giga Sample ADC