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Durch neue optische Funktionen wie den optionalen Makro-Modus oder die schräge UV-Beleuchtung (OUV, mit i-line UV Option) wird beim Einsatz des Leica DM8000 M nicht nur das Auflösungsvermögen, sondern auch der Durchsatz bei der Inspektion von Proben mit ...
Durch neue optische Funktionen wie den optionalen Makro-Modus oder die schräge UV-Beleuchtung (OUV, mit i-line UV Option) wird beim Einsatz des Leica DM12000 M nicht nur das Auflösungsvermögen, sondern auch der Durchsatz bei der Inspektion von Proben ...
Räumliche Auflösung: 1 µm
... auszuwählen, die Sie benötigen, um das System an Ihre Anwendung anzupassen. Diese ergonomischen und benutzerfreundlichen Mikroskope tragen dazu bei, den Durchsatz zu erhöhen und den Inspektor bei seiner Arbeit komfortabel zu halten. ...
Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... Das SU9000 II ist eine Kombination aus oberflächenabbildendem SEM und strukturauflösendem Rastertransmissionsmikroskop (STEM), die für eine extreme Auflösung optimiert ist. Ermöglicht wird dies durch die einzigartige Elektronenoptik des SU9000 II, die ...
Gewicht: 9,5 kg
Länge: 657 mm
Breite: 251 mm
... Die ECLIPSE LV100NDA und LV100ND Serie flexibler, modularer, aufrechter Mikroskope von Nikon ist für episkopische und diaskopische optische Kontrastverfahren konzipiert. Die Geräte können mit digitalem Kamerazubehör geliefert werden und ...
Nikon Metrology
... SAM 300 AUTO WAFER ist eine speziell für die “Inline” Produktionskontrolle entwickelte Produktlinie. Es entspricht der Reinraumklasse 10. Es wurde für die Inspektion von Wafern oder gebondeten Wafern (MEMS) entworfen ...
Räumliche Auflösung: 5 µm
... Passen Sie Ihre 150-mm-Sondenstation auf der Grundlage flexibler Module zu einem unglaublichen Preis an! FormFactor stellt ein neues modulares Konzept für seine klassenbesten 150-mm-Sondenstationen vor. Damit wird es noch einfacher, Ihre individuelle ...
FORMFACTOR
Vergrößerung: 2.500 unit - 6.000 unit
Gewicht: 10,8 kg
... Hochauflösende Betrachtung, Messung und Analyse Hohe Tiefenschärfe und detaillierte Oberflächenaufnahmen Leichte und intuitive Bedienung Dieses System bietet einen 4K-CMOS-Sensor für eine hohe Auflösung und ist darüber hinaus mit 4K-kompatiblen Objektiven ...
Räumliche Auflösung: 0,02 µm
... Produktübersicht
Das Rasterkraftmikroskop (
wafer-level AFM) ist ein hochauflösendes Rastersondeninstrument, das zur Charakterisierung der dreidimensionalen Oberflächenmorphologie und multifunktionaler Eigenschaften von Leitern, ...
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