Mikroskope für Wafer

Räumliche Auflösung: 1 µm

... auszuwählen, die Sie benötigen, um das System an Ihre Anwendung anzupassen. Diese ergonomischen und benutzerfreundlichen Mikroskope tragen dazu bei, den Durchsatz zu erhöhen und den Inspektor bei seiner Arbeit komfortabel ...

Durch neue optische Funktionen wie den optionalen Makro-Modus oder die schräge UV-Beleuchtung (OUV, mit i-line UV Option) wird beim Einsatz des Leica DM8000 M nicht nur das Auflösungsvermögen, sondern auch der Durchsatz bei der Inspektion ...

Durch neue optische Funktionen wie den optionalen Makro-Modus oder die schräge UV-Beleuchtung (OUV, mit i-line UV Option) wird beim Einsatz des Leica DM12000 M nicht nur das Auflösungsvermögen, sondern auch der Durchsatz bei der Inspektion ...

Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... Die Cold Field Emission-Quelle ist ideal für die hochauflösende Bildgebung bei geringer Quellengröße und Energieverteilung. Die innovative CFE-Kanonen-Technologie trägt zum ultimativen FE-SEM mit überragender Strahlhelligkeit und -stabilität ...

... Die Oberflächenmorphologie ist eine wichtige Eigenschaft für viele Hightech-Oberflächen mit Merkmalen bis zu wenigen Nanometern und einer Oberflächenrauheit von weniger als einem Nanometer. Das Nanite ist das Werkzeug der Wahl für die ...