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... Das unabhängig entwickelte spektrale konfokale Messsystem wird bei den Rohstoffproduktionsunternehmen im vorgelagerten Bereich der Halbleiterindustriekette eingesetzt, um die Größe und Ebenheit von Halbleiter-Roh- und Epitaxiewafern zu ...
... XT-Option Zusätzliche Technologien erweitern die Wafer-Handhabungs- und Messmöglichkeiten des PWG5-Systems für strukturierte Wafergeometrie, um Wafer-to- Wafer-Bonding-Messungen für fortschrittliche Wafer-Level-Packaging-Anwendungen ...
KLA Corporation
... Produktübersicht
Die NEXIV VMZ‑S Serie von Nikon umfasst Video‑
Messsysteme zur dimensions‑ und höhenmessung in industriellen Prüfaufgaben. Verfügbar sind die Modelle VMZ‑S3020, VMZ‑S4540 und VMZ‑S6555; sechs Optik/Zoom‑Typen ...
Nikon Metrology
... RoboVib® - Struktur-Messstation für automatisierte experimentelle Modaltests Die RoboVib® Structural Test Station kombiniert das optische Präzisionsmessverfahren der 3D-Scanning Vibrometrie mit einem Industrieroboter. Damit stellt es die effiziente ...
... Das VX1100 eignet sich für präzise Dimensionsmessungen in den Bereichen Maschinen, Elektronik, Formen, Spritzguss, Hardware, Gummi, elektrische Niederspannungsgeräte, magnetische Materialien, Präzisionsstanzen, Steckverbinder, Anschlüsse, Mobiltelefone, ...
Chotest Technology Inc.
... Die mikroskopische Messmaschine MX3200 ermöglicht durch die Kombination von mikroskopischer Bildgebung und herkömmlicher Videomessung die Messung kleinster Merkmale in einem weiten Bereich. Ausgestattet mit einem motorisierten Revolverkopf, ...
Chotest Technology Inc.
... Das 3D-Inspektionssystem für unstrukturierte Wafer der Serie WD4000 kann automatisch die Waferdicke, die Oberflächenrauheit und die 3D-Mikrotopographie im Nanobereich messen. Verwenden Sie konfokale Weißlicht-Sonden zur Messung der Waferdicke, ...
Chotest Technology Inc.
... Automatisierter Wafer Edge Profiler WATOM 200/300mm Waferkantenmessung - punktgenau und präzise Die Verwendung immer kleinerer Muster in der Halbleiterindustrie erfordert immer fortschrittlichere Materialien von extrem hoher Qualität. ...
... verschiedenen Automatisierungslösungen für moderne Halbleiterfertigungsprozesse kombiniert zu werden, unabhängig davon, ob einzelne Wafer manuell geladen werden oder ein automatisches Materialhandhabungssystem (AMHS) vorhanden ist. ...
... Einzel- Wafer-Kanten-Profiler WATOM T Kleine Grundfläche und gleichbleibende Genauigkeit WATOM T ist eine kompakte, kostengünstige Alternative für Anwendungen, die keine Automatisierung erfordern, und bietet die gleiche Qualität, Prozesssicherheit ...
... herkömmliche magnetische Charakterisierung und kann auf die Proben detektion vor und nach der Struktur ierung angewendet werden. Wafer Moke kann ein vertikales Magnetfeld von bis zu 2,5 T/1,3 T in der Ebene bereitstellen, und das starke ...
... 3DGipsumB. Das System zur Messung der Abmessungen von Gipskartonplatten Schlüsselfertige Lösung auf der Basis von 2D-Laserscannern und Punkt-Triangulationssensoren zur kontinuierlichen berührungslosen Messung der geometrischen Parameter von Gipsplatten. Gemessene ...
... Das Gerät ist für die berührungslose Abtastung und Messung des Innendurchmessers von Rohren bestimmt. Gemessene Parameter: Innendurchmesser, Ovalität, Rundheit. Handmessgerät für den Innendurchmesser RF096-18/30-155/307-НН Messbereich D, mm: 18...30 Fehler ...
... Überlagerung Die Überlagerung ist ein Verfahren zur Angleichung der oberen Schicht an die untere Schicht. Der Überlagerungsfehler ist definiert als die Abweichung zwischen diesen beiden Schichten. Die Messung des Überlagerungsfehlers ist ein bildgebendes ...
TZTEK Technology Co.,ltd
... Automatisches Video- Messsystem der G-Serie Automatische Chargenmessung, freie Hände Die G-Serie ist ideal für eine Vielzahl von industriellen Inspektionsanwendungen, die sowohl optische als auch taktile Messungen erfordern. Merkmale ✦Hochpräzise ...
Guangdong Jinuosh Technology Co.,Ltd
... Strukturen. Anwendungen: Höhenmessung im μm-Bereich (Schicht- und Strukturdicken, Kratzer) Messen von Flachteilen ( Wafer und Masken) Inspektion und Messung von Mikro- und Makrostrukturen Materialuntersuchungen, ...
... Produktbeschreibungen Multi-sensor CNC Vision Measuring System ist hohe Feinmessunglösungen für große Teile. Mit Metrology Software, Programmable Zoomobjektiv, Servo Bewegungssteuerung, die Vision Maschinen-Maßteile beenden bis zu 2 Metern. Multi-sensor ...
Leader Precision Instrument Co. Ltd
... Leckagen und niedrigen Kapazitäten erheblich. Ein neuer, fortschrittlicher 200-mm-Schnelltisch, eine Kassette für bis zu 50 Wafer, Testfunktionen mit hohem Durchsatz und ein breiter Temperaturbereich von -60 °C bis 300 °C bieten alles, ...
FORMFACTOR
... Dieses Gerät wird speziell für die Orientierungsmessung von Silizium-Einkristallstäben verwendet, es kann passend zu YX-5Z/6Z und Mehrlinienschneidegeräten verwendet werden. Seine größte Eigenschaft ist, dass es direkt den l-Ablenkwinkel, den X- und Y-Wert ...
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