Messsystem für Wafer SUMMIT200

für Halbleiterzur Kalibrierungvollautomatisch

Das neue fortschrittliche 200-mm-Sondensystem SUMMIT200 von Cascade ist unverzichtbar für die schnellstmögliche Erfassung hochgenauer Messdaten auf Einzel- oder Volumenwafern. Die Sondenstation SUMMIT200 wurde für F&E, Gerätecharakterisierung/-modellierung oder Nischenanwendungen in der Produktion entwickelt und ermöglicht präzise elektrische Messungen über die Temperatur für Anwendungen mit extrem geringem Rauschen, DC, RF, mmW und THz, mit halbautomatischem und jetzt auch vollautomatischem Betrieb, um schnellstmöglich genaue Daten zu erhalten. Das Sondensystem der nächsten Generation unterstützt die PureLine™-Technologie, um einen der niedrigsten Rauschpegel auf dem Markt zu erreichen. Die patentierten AttoGuard®- und MicroChamber®-Technologien verbessern die Messungen bei geringen Leckagen und niedrigen Kapazitäten erheblich. Ein neuer, fortschrittlicher 200-mm-Schnelltisch, eine Kassette für bis zu 50 Wafer, Testfunktionen mit hohem Durchsatz und ein breiter Temperaturbereich von -60 °C bis 300 °C bieten alles, was Wissenschaftler, F&E- und Testingenieure oder Produktionsmitarbeiter benötigen, um ihre Arbeit schnell zu erledigen. Die Prüfstation SUMMIT200 unterstützt Contact Intelligence™ - eine einzigartige Technologie, die autonome Halbleitertests ermöglicht. Eine leistungsstarke Kombination aus innovativem Systemdesign und modernster Bildverarbeitung bietet eine bedienerunabhängige Lösung, mit der zu jeder Zeit und bei jeder Temperatur hochzuverlässige Messdaten gewonnen werden können. Mit einem breiten Anwendungsspektrum und Aufrüstungsmöglichkeiten für zukünftige Anforderungen ist der SUMMIT200 die fortschrittlichste 200-mm-Prüfkopfplattform für schnelle, hochpräzise und hochvolumige Messungen für bestehende und zukünftige Geräte und ICs.