Temperaturmesssystem IMS-K-SiPh
optischfür Waferfür Halbleiter

Temperaturmesssystem
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Eigenschaften

Physikalische Größe
Temperatur
Technologie
optisch
Gemessenes Produkt
für Wafer, für Halbleiter
Anwendung
zur Kalibrierung

Beschreibung

Umfassendes, schlüsselfertiges integriertes Messsystem (IMS) mit Keysight Photonics Anwendung Suite Hardware und Software Die Anwendungsexperten von FormFactor und dem Partner Keysight helfen Ihnen bei der Konfiguration einer robusten Komplettlösung, die Folgendes umfasst: - FormFactor Tastsystem: CM300xi, SUMMIT200, MPS150 (andere verfügbar) - Optionen für manuelle, halbautomatische und vollautomatische Sondenstationen - FormFactor-Analysesonden: RF- und DC-Sonden auf manuellen oder motorisierten Positionierern - FormFactor integrierte ein-, zwei- oder 3-seitige optische HexNano-Positionierung - FormFactor Photonics Automatisierungssoftware: SiPh-Tools und Photonics Controller Interface für die automatische Kalibrierung und Steuerung von optischen Positionierern - Temperaturmessungen und Automatisierung von -40°C bis +125°C - Abstimmbare Laser, Leistungsmesser und Polarisationssynthesizer: Keysight N7776C, N7778C, N7744C, N7745C, N7786C, N7788C (andere verfügbar) - Modulare Laser: Keysight 81606A, 81607A, 81608A und 81602A (andere verfügbar) - Keysight Halbleiter-Parameteranalysatoren oder PXIe-SMUs für Optical to Electrical (O-E): B2901A, B1500A, M9601A PXI SMU (andere verfügbar) - Keysight Test- und Automatisierungssoftware: Photonics Application Suite (PAS), PathWave Test Automation mit FormFactor Wafer prober plug-in - Zur Vervollständigung des Systems: Kabel, Adapter, Befestigungsmaterial, usw.

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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.