Messsystem für Wafer EPS200MMW

Mikroskop

Eine Komplettlösung für mmW-, THz- und Load-Pull-Messungen bei 67 GHz und darüber hinaus. Maßgeschneiderte Lösung, die den Messanforderungen für aktive und passive Komponenten im Terahertz-Frequenzbereich gerecht wird. Sie ermöglicht höchste Dynamik und Richtwirkung - ohne Kompromisse bei der elektrischen Genauigkeit oder mechanischen Stabilität. Das EPS200MMW ist eine spezielle Messlösung, die alles enthält, was für die effiziente Erzielung präziser Messergebnisse erforderlich ist, und die die bekanntesten Methoden und Designkonzepte für die Messung von Frequenzen bis in den THz-Bereich umfasst.Mit einem soliden Gussrahmen und einer Platte mit Vier-Punkt-Auflage bietet das EPS200MMW eine hervorragende Stabilität, die das Erreichen einer hohen Genauigkeit erleichtert. Der polierte Granitsockel eliminiert jegliche thermische oder mechanische Einflüsse und gewährleistet eine hervorragende Planarität und Systemstabilität. Die einzigartigen SIGMA™ Optionen integrieren nahtlos mmW-Köpfe und Load-Pull-Tuner von führenden Messgeräteanbietern und ermöglichen höchste Dynamik und Richtwirkung ohne Kompromisse bei der elektrischen Genauigkeit und mechanischen Stabilität. Das SlimVue™-Mikroskop mildert mechanische Interferenzen für hochvergrößernde Optiken, die für Smallpad-Sondierungen erforderlich sind