Temperaturmesssystem IMS-K-mmW/THz

für Waferzur Kalibrierunggehärtet

Umfassendes, schlüsselfertiges integriertes Messsystem (IMS) mit Keysight PNA für On-Wafer-F&E-Messungen von RF über Millimeterwellen bis Terahertz Die Anwendungsexperten von FormFactor und dem Partner Keysight helfen Ihnen bei der Konfiguration einer robusten Komplettlösung, einschließlich: - FormFactor-Messkopfsystem: CM300xi, SUMMIT200, EPS150RF, EPS150MMW (andere verfügbar) - Optionen für manuelle, halbautomatische und vollautomatische Sondenstationen - FormFactor-Analysesonden: Infinity, InfinityXT, T-Wave (andere verfügbar) auf manuellen oder motorisierten Positionierern - FormFactor-Kalibrierungszubehör: WinCal XE, Impedanz-Standardsubstrat für LRRM, Multiline TRL Cal Substrate Kalibrierungen (andere verfügbar) - FormFactor RF Automatisierungssoftware: Autonomer RF-Messassistent zur Verbesserung der Messunsicherheit und des Durchsatzes (optional) - Vollständige Übertemperaturmessungen und Automatisierung von -60°C bis +200°C - Keysight Vektor-Netzwerkanalysatoren und Frequenzerweiterungen bis 130 GHz: N5290A/91A PNA MM-Wave, N524xB PNA-X, N522xB PNA (andere verfügbar) - Keysight Automatisierungs- und Modellierungssoftware: WaferPro XP, PathWave, IC-CAP - Virginia Diodes (VDI) Mini-Frequenzerweiterungen für Messungen von 75GHz bis 1,1THz (optional) - Leicht austauschbare RF-Applikationsarme zur Montage von RF-Koax, mm-Wellen-Koax, Hohlleiter-Verlängerungen und Load-Pull-Tunern - Zur Vervollständigung des Systems: Kabel, Adapter, Befestigungsmaterial, usw.