3D-Messsystem PM300

für Waferfür HalbleiterMikroskop

Die PM300 Analytical Probe Station ist der Industriestandard für die manuelle Halbleiterfehleranalyse und prozessbegleitende Prüfungen. Die überlegene Mechanik dieses vielseitigen Prüfkopfsystems sorgt für eine stabile und präzise Systemeinrichtung, unabhängig von Ihrer Anwendung. Die PM300 ist als offenes oder geschirmtes System PM300PS erhältlich. Das manuelle analytische Sondensystem PM300PS schafft eine Messumgebung, die frei von elektromagnetischen (EMI) und hochfrequenten Störungen (RFI) ist, für die Charakterisierung und Modellierung von Bauelementen, die Prozessentwicklung, die Zuverlässigkeit auf Waferebene, die Fehleranalyse und den 3D-IC-Engineering-Test.